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本文综述了功能测试和BIST等芯片测试实践及其与MCM测试的关联,并分析了上述技术运用于MCM测试的不足。文章还总结了在线测试和边界扫描等板测试策略.并讨论了板测试技术运用于MCM测试的可取之处。文中分类并比较了各种测试策略。介绍了合适的MCM测试设备,随后举例说明了芯片测试、板测试以及混合测试等MCM测试策略。 相似文献
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