SF_6封闭式组合电器发展现状与存在问题

<正> SF_6封闭式组合电器与SF_6断路器是同步发展的。日本在1960年已开始研究,1965年第一台77kV电压等级的SF_6断路器投入运行。1968年制出分相式SF_6封闭组合电器(称为第一代)。1978年开发出三相共筒     

诊断接触不良的新设备

<正> 金属封团式SF_6组合电器(GIS)的断路器、隔离开关、母线的连接部分,都在密封的罐体中。由于在运行过程中的振动以及接触面被膜等影响下出现接触不良,往往酝酿成温度升高而引起绝缘破坏事故。目前,因为接触不良,已成了GIS经常发生事故的原因之一。为了对接触部位进行诊断,过去用测量接触电阻、温度上升情况等办法,但是,前者正在运行过程中不能测量,后者在影响速度及定量方面也不尽完善。 如果发生接触不良,一般的发展过程是这样的:处于正常运行状态的设备,由于受到地震,机械振动等外部力的影响,在接触表面形成隔膜,导致接触不良。这样一来,     

高压开关行业工艺突破口工作诊断交流会在西安召开

<正> 为了进一步贯彻执行机械电子工业部机电科(1989)1号文件关于在治理整顿、改革开放的新形势下,继续深入开展“工艺突破口”工作的通知精神,促进电工行业工艺突破口工作向纵深发展,向新的目标前进。机械电子部第一装备司,于1989年5月24～27日在西安召开了高压开关行业工艺突破口工作诊断交流会议。有关高压开关制造厂、专业研究所、设计院、西