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以CMOS电路动态电流(IDDT)为研究对象,提出了一种针对 IDDT测试信号数据的预处理方法。该方法从统计角度出发,通过计算故障电路IDDT的标准差和偏斜度得到故障特征。文中采用CMOS与非门电路进行仿真,将该方法与小波变换预处理方法进行对比,并结合概率神经网络分类方法对故障进行诊断。仿真结果证明了基于IDDT标准差和偏斜度预处理方法的有效性,并且结合概率神经网络对晶体管桥接故障、阻性开路故障和晶体管参数故障的故障诊断平均正确率达到90.7%。 相似文献
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针对转发放大(Amplify-and-Forward, AF)模式下的双路径中继网络,为了降低训练序列设计相互约束关系的复杂度,并提升系统误码性能,本文提出了一种基于预编码的信号传输方案。新方案采用一对相互正交的预编码矩阵,分别在两个中继处对信号进行预编码,在目的点右乘相应的解码矩阵将两路叠加信号分离。新方案能够将两路信号完全分离从而使原本需要考虑三处训练序列设计的问题转化为两处,简化了训练序列设计复杂度。由于预编码方案能够在目的点压缩噪声功率,并且避免两路中继信号的互相干扰,单路径误码性能和双路径分集合并误码性能都得到提升。仿真结果验证了新方案的有效性。 相似文献
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