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对因端部发热而退出运行的复合绝缘子进行温升试验,确定其热源在高压端护套表层。进一步结合憎水性、盐密、灰密测试和电子探针显微分析,研究复合绝缘子伞套理化特性。结果表明,高压端伞套老化最为严重,老化主要集中发生在浅表层,与温升试验结果一致。  相似文献   
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