带有半导体电热膜的远红外陶瓷热胀系数测定

本文采用一种新的数字图像相关方法测量带有半导体电热膜的远红外陶瓷热胀系数.该方法将有限元的位移模式引入,更适合于微细观领域的高精度测量,可以得到热胀系数随温度变化的曲线.结果表明,陶瓷基体和电热膜均表现出各向异性的热膨胀.在基体和膜热胀系数数值较接近的方向,降温时膜收缩而基体继续膨胀;在基体和膜的热胀系数变化规律一致的方向上,数值上膜的热胀系数要比基体的热胀系数大得多.若已知陶瓷基体和电热膜的应力应变本构关系,就可以根据测试结果计算陶瓷基体与电热膜之间的热应力及残余应力.     

一种新的数字散斑搜索方法及其精度分析

提出了一种新的改进的数字散斑相关的搜索方法一单区域搜索法。其特点是在一个子区的计算中．用梯度法得出的中心点的位移及导数项，将其代人弹性力学公式计算其它点的位移项初值，再用样条插值公式计算导数项的初值。该方法可在不降低精度的基础上极大地提高速度，是一个高效率、高精度的数字散斑搜索方法。本文还通过数值模拟的方法分析了该方法的精度。