商用Flash器件在空间应用中温变规律的实验研究

分析了工业级Flash存储器件应用于空间电子产品时应考虑的温变规律和机理,并在-35～105 ℃的温度条件下对韩国三星公司生产的大容量Flash存储器件K9G08UD系列进行了温循试验和高温步进应力试验,以评估其空间应用的可行性。试验结果显示:这一系列存储器在温度变化的情况下,电性能参数会发生规律性变化,其中页编程时间随温度的升高线性增大,105 ℃比-35 ℃时页编程时间增加15%;块擦除时间在低温条件下明显增大。在-35 ℃低温条件下,块擦除时间比常温条件高出72%,在105 ℃高温条件下,块擦除时间比常温条件高出10%。试验表明Flash K9G08UD系列存储器能够在-35～105 ℃的环境下工作,器件可正常擦写读,坏块没有增加。页编程时间随着温度的增加而增加,但是,仍然在器件的最大页编程时间之内。但是,在低温环境下,擦除时间会明显增加,在空间应用时需为擦除操作预留足够的时间。     

X波段圆极化天线的设计与实验

介绍了一种圆极化宽带圆锥喇叭天线,用于地检设备子系统中。天线的圆极化性能是通过金属螺钉在圆波导的管壁对称地插入,等间隔排列来实现的,螺钉直径与插入深度由计算得出。为实现信号低反射馈入,馈电端口采用了矩一圆波导转换器,完成了从矩形波导过渡到圆形波导。天线的辐射器采用了传统的圆锥喇叭。使用CST微波工作室。仿真该天线,并调整各部分的尺寸,使得天线性能最优化。实验测量数据与仿真结果吻合较好,在400MHz的工作带宽内,天线增益大于14．5dB,增益平坦度好,轴比小于1．5dB,驻波比小于1．2。