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针对变电站合并单元测试设备技术性能中"延时特性"和"准确度"两项关键的测试功能指标缺乏有效校验手段的问题,提出了一种针对变电站合并单元测试设备技术性能的校验方法,研制了相关校验系统,介绍了系统构成、技术指标。该校验系统基于高性能ARM处理器+现场可编程门阵列(FPGA)+高精度AD芯片的硬件系统,设计了电压、电流快速采样前置电路以减小采样延时误差,应用了定频采样高精度幅值和相位算法以实现对采样信号的高精度测量,设置了精确灵活的延时特性测试策略。随后,应用该校验系统开展了合并单元测试设备比对性测试,基本解决了变电站合并单元测试设备核心性能无法检测的实际问题。 相似文献
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