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近年来,随着计算机的广泛应用,程序控制的设备愈来愈多。电子测量的自动化,对系统的定时部分也提出了可程控的要求。在集成电路自动测试系统中,就需要一个可程控的定时装置。本文所介绍的就是一个用于集成电路自动测试系统的定时装置,它也可用于其他对脉冲的周期、延迟及宽度需要程序控制的场合。用于集成电路自动测试系统的程控定时装置有三个基本要求:(1)多相,这是因为很多半导体器件,特别是动态MOS器件需要多相周期相同而延迟及宽度不一的定时脉冲。 相似文献
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