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1.
韩峰岩  王红 《测控技术》2015,34(11):152-156
针对测试性试验和维修性试验中评估结果的分散性问题,分析了标准抽样方法存在的问题,研究提出了测试性试验对抽样的要求和基于准随机序列的抽样方案.工程试验和仿真表明,基于准随机序列的抽样方案可以显著改进抽样精度和覆盖性,降低分散性,具有很好的工程应用价值.  相似文献   
2.
磁敏二极管的数值模拟   总被引:1,自引:0,他引:1  
韩峰岩  徐启华 《半导体学报》1990,11(12):931-936
本文首次实现了具有高复合表面的磁敏半导体器件的数值模拟;探讨了适合于数值模拟的磁敏半导体器件的边界条件及基本方程的定标方法。所得结果与实验数据基本相符,可以说明器件的内部机理,对磁敏器件的优化设计有指导意义。  相似文献   
3.
当皮秒孤子在群色散沿长度方向指数衰减的色散渐变光纤(DDF)中传输时,孤子的群色散和自相位调制保持局域平衡,宽度可以保持不变,用于孤子光通信有其特殊的优越性、但群色散分布满足要求的色散渐变光纤制造难度较大.为此,文章提出了用群色散分段均匀的光纤(称其为阶梯色散渐变光纤)来加以替代的可能性.模拟结果表明:孤子可以在由这样的光纤及滑频滤波器组成的光纤环路中稳定传输、即使群色散分布不理想的DDF,只要其各段的平均群色散满足要求,就不会严重影响孤子传输的稳定性。  相似文献   
4.
交流电电气参量高精度测量的加权算法   总被引:7,自引:4,他引:7  
针对传统的采样算法测量交流电电气参量误差较大的问题 ,基于多次平均思想 ,提出了一种电气参量测量的加权算法 ,并给出了加权函数的递推公式及其前 6阶加权函数的解析表达式。误差分析和数值模拟均表明 :若采用k阶加权函数 ,各电气参量测量值的同步误差正比于相对频偏的k次方。在电力系统中 ,只需取k =3而不必引入其它同步措施 ,便可将因非同步采样引起的测量误差降低到 10 -5的量级以下。  相似文献   
5.
装备测试性试验与评价的综合设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
韩峰岩 《测控技术》2014,33(11):150-152
在讨论测试性试验与评价分类、测试性试验与评价方法适用性的基础上,结合飞机研制工程实际,提出了综合考虑产品层级、综合利用各种技术、综合考虑研制与鉴定的试验与评价方案。  相似文献   
6.
介质损耗因数测量的谱泄漏对消算法   总被引:15,自引:8,他引:7  
提出了基于谱泄漏对消及频率自适应跟踪的算法 ,它能有效抑制电压、电流谐波及基波负频分量的谱泄漏对介损因数测量的影响。该算法的特点是 :(1)能求得电网频率实现频率跟踪 ;(2 )运算量少 ,所需的乘法次数和加法次数均约为采样点数的 4倍 ;(3)谱泄漏抑制效果好 ,可取得较高的测量精度  相似文献   
7.
计算机实时控制系统软硬件综合FMEA   总被引:3,自引:0,他引:3  
韩峰岩  王昕 《计算机工程》2003,29(20):50-51,71
比照硬件失效模式影响分析FMEA技术(FMEA),分析了影响软件FMEA的因素,在对软件FMEA技术进行简要综述的同时,提出了一种适合于计算机实时控制系统的软硬件综合FMEA方法。工程应用表明,这种软硬件综合FMEA方法可用于计算机实时控制系统的设计过程,对提高系统的可靠性、安全性具有一定作用。  相似文献   
8.
提高谐波参量测量精度的谱泄漏相消算法   总被引:4,自引:0,他引:4       下载免费PDF全文
提出一种能有效提高谐波参量测量精度的新算法.该法通过两个采样起点约间隔半个信号周期的采样数据作加窗傅里叶变换,并利用它们将谱泄漏抵消,从而有效地改善谐波分析的精度.所提出的方法适用于任何形式的对称窗函数.理论分析与数值模拟结果均表明:该算法可显著提高容易被强谐波所掩蔽的弱谐波的谱分析精度从而提高谱分析的整体测量精度.  相似文献   
9.
一种实用的嵌入式软件质量管理框架   总被引:1,自引:0,他引:1  
对与软件质量管理有关的主要标准进行了系统的分析,提出了适用于软硬件一体化质量管理的嵌入式软件质量管理框架的基本要求,开发了在ISO9000标准的基本框架下,吸收CMM、GJB2786、DO-178B等标准的优点而成的一,个实用的嵌入式软件质量管理框架。通过在3个企业的试运行表明,该质罱管理框架既能满足对软件质量管理的要求,又适用于软硬件一体化的质量管理,便于在已经通过ISO9000标准认证的企业应用。  相似文献   
10.
用谐波分析法测量介质损耗因数时, 数据采样不同步所引起的频谱泄漏会造成测量误差.为抑制这种误差,本文提出了一种新算法--卷积窗加权算法.该算法的特点是:①实现简单且精度高,无须同步采样措施, 在正常的电网频率波动范围内, 只需用三阶卷积窗对三个额定周期的采样信号加权便可将频谱泄漏引起的测量误差减少到可以忽略的程度;②运算量少,每次测量所需乘法次数和加法次数仅约为采样点数的两倍,比FFT所需的计算量小得多,且点数不受限制.  相似文献   
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