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高原电器外绝缘及长空气间隙放电机理的研究,对于确定超高压输电设备的外绝缘尺寸具有现实意义。本文简要地介绍了国内外高原电器外绝缘及长间隙放电机理研究方面的近况。 相似文献
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应Dr.B.Hutzler的邀请,访问了雷纳第(Les Renardieres)高压试验中心。它是法国电力公司(EDF)的一个研究机构,也是最小的机构,共2700人占公司总人数的2%。雷纳第下设8个部门,高压设备组有400名工作人员,占中心总人数的15%。高压试验室为65人,占组的总人数的16%,大部分为试验和保修人员,研究人员仅5名,占8%。 相似文献
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电气产品均应按标准进行干扰和抗干扰两项指标的测试,并应达到标准规定的阈值。为了不受随机因素的影响,试验要在可控的电磁环境下进行,干扰及抗干扰测试均要在特定的试验条件下进行,通常是在屏蔽室或电波暗室内,试验方法中进行设备布置均应严格遵照EMC标准进行。试验的技术规定非常严格,必须经国家认可的权威单位(如上海电器科学研究所、上海电动工具所、上海海军电磁兼容测试中心等)进行。下面将简要介绍的16个试验项目,分为电磁发射(EMI)和电磁抗干扰EMS两大类。每一类试验又根据耦合方式的不同分为传导干扰和辐射… 相似文献
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真空断路器真空度现场测量新技术 总被引:2,自引:0,他引:2
真空灭弧室真空度的传统测试方法主要有磁控放电法及工频耐压法.磁控放电法需要使用磁场线圈,而工频耐压法只能测出严重漏气的灭弧室.本文提出了一种新的真空度测量方法--发射电流起始场强法,该方法不需要施加磁场,它是将闭合的灭弧室触头强行拉开0.45mm,在触头间隙上施加工频高电压,接着使用电子轰击或间隙击穿的方法去除触头上固有的气体吸附层,再通过离子捕集的方法重建动态平衡的气体吸附层,然后测量发射电流起始场强Eip.通过理论分析知,发射电流起始场强Eip与真空灭弧室内的真空压强P成正比,故通过测量发射电流起始场强Eip的大小,就可以获得真空灭弧室内的真空度.本文在实验室对发射电流起始场强与真空度的关系进行了实验研究,结果表明,该新方法可将真空度测量范围拓宽到100~10-3Pa. 相似文献
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一种测量真空开关灭弧室真空度的新方法 总被引:8,自引:1,他引:8
提出了一种无需施加磁场、利用发射电流衰减速度测量真空开关灭弧室真空度的新方法。首先利用500μA发射电流对触头表面轰击,除去触头表面上多余的分子吸附层。然后利用35μA发射电流与触头间残余气体分子的碰撞电离,形成离子流。离子流又撞击触头表面,被表面捕获,形成新增吸附层。这些新增吸附层的存在会增大触头材料逸出功,导致发射电流的衰减。真空度不同,发射电流的衰减速度就不同,故在发射电流衰减量一定的条件下,通过检测发射电流衰减时间就可以测量灭弧室内的真空度。文中通过理论分析,给出了发射电流衰减时间与真空度的关系并进行了实验验证。 相似文献
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8th ISH—93将于1993年8月23日至27日在日本横滨举行,征文题目为:1.电场计算与测量;2.固液体介质与绝缘;3.气体介质与绝缘,真空;4.大气放电,户外绝缘,染污;5.高压试验与测量技术;6.局放测量,监督,电机绝缘;7.雷电,过电压,快速暂态,电磁兼容;8.高压应用,静电,脉冲功率技术;9.新技术,生物效应,深冷绝缘,空间环境,数据库,专家系统。 相似文献
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电磁干扰的预防(一) 总被引:2,自引:0,他引:2
大量事实表明,许多电器产品往往在使用过程中或使用后才发现电磁干扰问题,而此时再设法去解决则经费很大。因此,电器产品尤其是复杂的系统,在设计阶段就应考虑电磁干扰的预防问题,为此投入的费用虽然较高,但今后因电磁干扰产生问题的概率较小。电器产品电磁干扰的预防和初期设计经费投入最小的关键,是必须对电磁干扰的源头、传播途径和耦合方法有清楚的认识[1]。1 干扰源的预防完全消除干扰是不现实的,关键是削弱干扰源的干扰强度。电气设备内部各种载流导线所产生的磁场是不可避免的干扰源。但如果将载流体采取如图1所示的对… 相似文献
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国内对高压输电线路用绝缘子串的雨下耐电强度的监督主要是做一分钟工频耐压,很少进行冲击湿闪的考验。现实中高压线路绝缘子串在下雨时造成闪络的电压不仅是工频电压还有雷电波和操作波。在电压等级为220kV时,雷电波的负湿闪冲击强度可以比正时降低20%左右,当电压等级为500kV、串长达5m时, 相似文献