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热处理对二氧化钛表面二氧化硅包膜的影响 总被引:1,自引:1,他引:0
通过单流匀速滴定法在二氧化钛颗粒表面均匀包覆一层二氧化硅,系统地研究热处理温度对这层硅包覆层的形貌和相组成的影响;采用X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)、透射电子显微镜(TEM)和傅立叶红外光谱仪(FTIR)等手段对包硅二氧化钛颗粒进行表征。结果表明:150℃热处理形成连续致密的硅二氧化硅覆层;500℃热处理3 h后形成岛状二氧化硅膜;700℃热处理后形成不连续的硅二氧化硅覆层,并有脱落的倾向;当温度升到1 000℃时,硅二氧化硅覆层会脱落,二氧化钛的粒径增大,大约在1 000℃,二氧化硅包覆层结晶化。 相似文献
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