TMPS与PB共混物的形态结构研究

采用小角Ｘ射线散射（ＳＡＸＳ）法和偏光显微镜法测定不同组分比的聚四甲基苯撑硅氧烷（ＴＭＰＳ）与１，２聚丁二烯（ＰＢ）共混物的长周期、晶片厚度、无定形厚度及一维结晶度等超分子结构参数及球晶生长形态。结果表明，ＴＭＰＳ／ＰＢ共混物组分比和热历史，将影响系统中非晶共混物不同程度的微相分离及相倒转；相倒转又影响了系统中结晶相ＴＭＰＳ晶体的生成条件，使共混物的上述超分子结构参数产生了不连续的变化。     

聚硅氧烷PTMPS和PTMPS—DMS的亚微观结构与力学性能

用ＳＡＸＳ法和偏光显微镜研究了ＰＴＭＰＳ均聚物和ＰＴＭＰＳ－ＤＭＳ多嵌段共聚物熔体结晶的亚微观结构。结果表明，ＰＴＭＰＳ和ＰＴＭＰＳ－ＤＭＳ的亚微观结构参数，结晶形态，拉伸强度，断裂伸长，储能杨氏模量比Ｅ／Ｅ０，损耗杨氏模量″和力学损耗角正切ｔｇδ等存在密切相关性。     

解偏振光法测定PET的结晶和熔融

本文采用具有热平衡时间很短的自制解偏振光测定装置,测定了PET分别从熔融态降温和玻璃态升温于125℃～219℃各温度的等温结晶过程。得到的两种结晶过程的半结晶期-结晶温度曲线重叠性良好,最大结晶速度温度约为170℃。Avramin指数于4.2～5。同时用本装置测定了上述等温结晶的PET样品的熔点,证明了结晶PET熔融时产生双熔点现象是由于聚合物在升温过程中发生结晶熔融—再结晶—再熔融所引起的。     

用小角X射线散射法分析纳米微粒的粒度分布

纳米微粒(又称超细微粒)是一种新型材料·本文较详细地介绍了用小角x射线散射法测定其粒度分布的理论基础,实验条件和各种试样的制备方法,提出实验中应注意的几个问题。展望小角x射线散射法测定纳米微粒粒度分布的前景。     

拉伸工艺对BOPET薄膜结晶和取向的影响

采用X射线大角衍射(WAXD)法测定不同拉伸工艺的双轴取向PET薄膜的结晶和取向。测定结果表明,PET薄膜的结晶度和取向度主要决定于薄膜的拉伸温度、热定型温度和拉伸速度,PET薄膜的结晶和取向直接影响到薄膜的性能。     

小角X射线散射法测定PET和PBT的玻璃化温度EI

根据Fischer和Kloos提出的高聚物在T_g值时,SAXS强度与温度的关系不是线性的原理和Dulser测定结晶高聚物T_g值的计算方法,测定了PET和PBT的T_g值,并对本方法的样品处理及测试条件的影响进行了讨论。     

消偏光强度法测定高聚物结晶速度的改进

增加散射光的补偿装置,结晶炉采用黄铜作导热介质,使散射光得到补偿,热平衡时间大为缩短。这使试样在仪器上的结晶过程更接近真实情况。作者用改进了仪器测定了尼龙6、尼龙66和PET树脂的等温结晶过程,并计算了Avrami指数n值。     

HEMA在PE膜上辐照接枝物的小角X射线散射研究

用小角Ｘ射线散射（ＳＡＸＳ）法研究了聚甲基烯酸β关羟乙酯（ＨＥＭＡ）在聚乙烯（ＰＥ）膜上辐照接枝物的形态结构。采用Ｔｓｖａｎｋｉｎ模型和Ｂｕｃｈａｎａｎ改进的ＳＡＸＳ分析方法，测定了ＨＥＭＡ／ＰＥ辐照接枝物的长周期，晶片厚度，无定形厚度及－维结晶度等参数。发现ＨＥＭＡ／ＰＥ接枝物存在着两种长周期及两组不同的形态结构参数。笔者提出了“双重夹层结构”模型，对该接枝物的形成机理作了讨论。     

一些结晶共聚物的形态结构的X射线小角散射研究

直接用布拉格公式计算长周期,不但误差大,而且浪费了散射曲线强度分布的其它信息。本文采用Tsvankin模型和Buchanan发展了的小角X射线散射(SAXS)分析方法,分别测定了TMPS/PDMS嵌段共聚物、TMPS/PB共混物、PE/HEMA辐照接枝物的长周期、晶片厚度、无定形厚度及一维结晶度等参数。最后,时夹层结构的形成机理作了讨论。