利用ICP-AES分析光学玻璃中的结石

结石是高品质光学玻璃中的一种严重缺陷,分析光学玻璃中结石组分及结石产生原因是消除这种缺陷的关键。结合玻璃生产熔炉及组成等实际,利用电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)分析不同体系玻璃中结石的图谱。结果表明:和以前使用的光学显微镜方法相比,利用电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)可以对结石的成分进行快速分析,通过与基体玻璃相比对,有助于准确推测出结石产生的可能原因,为消除玻璃中的结石缺陷提供了依据。