激光作用下GeS2非晶半导体薄膜的性能及结构变化

采用514.5nm波长的氩离子激光器，结合X射线衍射分析（XRD）、红外光谱分析（IR）、扫描电镜分析（SEM）和透射光谱分析，研究了GeS2非晶半导体薄膜在激光辐照后的性能及结构变化。实验结果发现，经热处理和激光辐照后，薄膜的光学吸收边均移向短波长处，并且随着辐照激光强度和辐照时间的增加而增加，这种平移在退火薄膜中是可逆的。SEM结果分析表明，薄膜在激光辐照后有晶相出现，且随着辐照激光强度的增加，晶相更多。     

偶氮染料:新型高密度、多功能光盘存储介质

偶氮染料在短波区具有优良的光学和热学性质以及光致顺反异的特性,既是一类新型高密度可录光盘存储介质,又是一类可望作为可擦重写的光盘存储介质。本文在总结近几年最新研究成果的基础上,分别阐述了偶氮染料作为高密度可录光盘和可擦重写光盘存储介质的作用机理以及对记录介质的基本要求,讨论了影响偶氮染料光学、热学性质以及光存储性能的主要因素,并对未来的发展趋势作了展望。     

光存储酞菁薄膜的加速老化研究

采用加速老化试验对光存储酞菁薄膜进行了寿命研究，以反射率的变化作为试验的判断依据。在５５℃，８５％ＲＨ；６５℃，８５％ＲＨ和７５℃，８５％ＲＨ的条件下，测试了反射率随时间的变化关系，用外推法估算出光存储酞菁薄膜的自然寿命。     

硫系Ge-As-S玻璃和薄膜的特性

用差热分析，X射线衍射分析和透射光谱分析等手段研究了硫系Ge-As-S玻璃和薄膜的性能，结果表明，Ce-As-S体系的成玻能力较强在空气中自然冷却就能成玻，其（Tg-Tc)/Tg值为0.127-0.289，经激光辐射后的Ge-As-S玻璃薄膜的透射光谱曲线向短波方向移动，且平移的大小随激光功率的增加而增加，薄膜的透射光谱线的平移表明激光辐射导致薄膜光致结构变化，利用电子束辐射极化，通过Maker条纹测试方法在Ge-As-S玻璃中观察到二次谐波。     

高性能长寿命可录CD(CD-R)光盘研制

CD-R是CD-Recordable的缩写,即可录光盘。CD-R光盘具有以下优点:(1)CD-R光盘存贮容量大(650MB),相当于400张1.44MB软磁盘的存贮量。(2)CD-R光盘与CD系列其他光盘兼容,价格便宜。(3)CD-R光盘的数据保存时间长,可达几十年甚至100年。     

新型AgInSbTe相变薄膜的结晶活化能研究

利用磁控溅射法制备了新型AgInSbTe相变薄膜, 热处理前后的X射线衍射(XRD)表明了薄膜在热作用下从非晶态转变到晶态. 通过非晶态薄膜粉末的示差扫描量热(DSC)实验测定了不同升 温速率条件下的结晶峰温度, 计算了粉末的摩尔结晶活化能、原子激活能和频率因子. 从结晶活化能E可以判断出新型AgInSbTe相变薄膜具有较高的结晶速度, 可以用于高速可擦重 写相变光盘.     

用于蓝光可录存储的无机材料研究进展

蓝光存储是信息存储领域发展的一个重要方向.用于蓝光存储的可录型光盘,由于其巨大的商业价值,将是今后研究的热点.本文总结了近几年来国内外文献报道的适用于蓝光可录存储的无机材料的最新研究成果,详细阐述了用于蓝光可录存储的无机薄膜的制备方法、无机记录材料的种类及存储原理.最后,对用于蓝光可录存储的无机材料今后的发展前景进行了展望.     

偶氮金属镍薄膜的折射率和吸收特性研究

偶氮金属镍(Ni(azo)2)是一类具有很大潜力的可录光盘存储介质。为了准确地获取一种偶氮金属镍薄膜的光学常数，用旋涂法(Spin—coating)在单晶硅片上制备了Ni(azo)2薄膜。在波长扫描和入射角可变全自动椭圆偏振光谱仪上研究了Ni(azo)2薄膜的椭偏光谱。采用逼近算法获得了Ni(azo)2薄膜在可见光范围内的复折射率、复介电函数、吸收系数和薄膜厚度。分析了Ni(azo)2薄膜可见吸收光谱的形成机理。结果表明在波长650nm处薄膜的折射率为2．19，吸收常数为0．023，具有良好的吸收和反射特性，显示出作为高密度数字多用光盘(DVD-R)记录介质的良好应用前景。     

可录光盘(CD-R)的优化功率研究

采用旋涂工艺制备出了大面积的均匀花菁化合物染料薄膜和以其为记录介质的CD-R光盘。通过染料薄膜光谱的分析,发现该染料薄膜在780nm波长处有较大的吸收和较高的反射,多层膜的反射率达到75%,这符合橙皮书对反射率大于70%的要求。通过不同记录功率条件下对CD-R光盘的反射率和误码率等性能测试,确定了CD-R光盘的优化功率为7mW。     

菁染料旋涂薄膜的短波长光存储性能研究

利用旋涂法 (spin coating)制备了一种新的菁染料薄膜 ,并进一步制备成可录型数字多用光盘 (DVD R) ,测试该菁染料溶液和薄膜的吸收光谱 ,薄膜的透过、反射光谱 ,用椭圆偏振光谱仪测试了薄膜光学常数n和k ,发现薄膜在 6 30～ 6 5 0nm波段内有良好的吸收和反射特性。在 6 32 8nm光盘动、静态测试装置和 6 5 0nm光盘性能测试仪上测试了以该染料薄膜为记录层介质的DVD R光盘 ,结果表明盘片具有良好的光存储性能。