锆英石质研磨体的研制

本文通过对锆英石原料、成型工艺和烧成工艺的研究，确定了锆英石质研磨体的生产工艺。     

石油焦微量元素XRF测定方法的研究

研究了石油焦(生焦和煅后焦)样品压片法制样的条件,确定了压片法使用的粘结剂,制定了利用X射线荧光光谱仪测定石油焦中微量和痕量元素的方法。选用PC和GPW系列标准样品,采用仪器软件SuperQ中提供的飞利浦模式的经验系数(Classic)和铑(Rh)靶康普顿散射线内标法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应,通过充分研磨样品消除颗粒效应。使用Magix(PW2403)X射线荧光光谱仪对样品中的Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、和Zn共18个元素进行测定,11次测定的相对标准偏差小于10%,用PC和GPW标准样品验证,测量结果与标准值的误差在化学分析允许差范围内。     

降低95氧化铝瓷烧成温度的研究

介绍了烧成温度为1530－1550℃的95氧化铝瓷的合理配方和生产工艺，并讨论了低温烧成机理，探讨了降低烧成温度的途径。     

X射线荧光光谱法测定铜矿中主次成分

以四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂(m/m=12∶22)作熔剂,采用熔融法制样,建立了测定铜矿石中Cu、S、Pb、Zn、As、Fe、Mn、SiO2、Al2O3、MgO、K2O、CaO、TiO2的X射线荧光光谱(XRF)法。讨论了预氧化温度和脱模剂的添加顺序对样品制备的影响,解决了硫化铜矿石样品对铂黄坩埚的腐蚀问题,并选择合适的校正程序进行谱线重叠和基体效应的校正。采用国家标准样品和人工合成标准样品来绘制校准曲线,线性范围较宽。对铜矿样品测定11次,相对标准偏差(RSD)为0.27%~19%;对用标准样品合成的样品进行分析,测定值与认定值相一致。分析结果的精密度和正确度能够满足一般铜矿的分析要求。     

塑性挤压成型90氧化铝陶瓷工艺研究

研究了塑性挤压成型生产90氧化铝陶瓷新工艺，进行了吨级规模氧化铝瓷球工业生产试验。结果表明，塑性挤压成型较之等静压成型生产90氧化铝陶瓷，具有工艺设备简单，投资小，成本低，产品适用面宽的优点。用本工艺试制的1号氧化铝瓷球比重大于3.54g/cm^3，干磨磨耗0.100-0.12g/kg.h，湿磨磨耗0.230-0.356g/kg.h，可与用相同原料配方，等静压成型生产的氧化铝瓷球的磨耗值（干磨0.111-0.141g/kg.h，湿磨0.235-0.352g/kg.h)相媲美。本工艺可推广应用于外形各异，断面相同的棒，管，柱，板状90氧化铝陶瓷异型件的规模生产。     

XRF熔融法测定氟化铝主次成分

介绍了使用X射线荧光光谱法测定氟化铝的主次量成分.采用熔融玻璃片法制样,此方法简单,迅速,成本低.选用GSB 04-2194-2008系列标准样品,采用仪器软件SuperQ中提供的飞利浦模式的经验系数(Classic)和基本参数法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应,使用Magix(PW2403)X射线荧光光谱仪对样品中的F、Na、Al、SiO2、Fe2O3、P2O5和SO42-共7个成分进行测定,各组分的RSD均小于3.5％,测量结果与标准值的误差在化学分析允许差范围内.     

用于X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料的变质镁砂标样认定值的修正与再利用

镁砂标样易吸潮变质,为了探讨变质镁砂标样继续使用的可能性,对9种烧失量已经发生变化的镁砂标准样品进行了条件试验,对变质镁砂标样的推荐值进行了校正。将样品进行高温灼烧处理,再通过定性半定量程序确定其未知元素的种类和含量,采用熔融制样法,建立了基于变质镁砂标样的高硅质镁基耐火材料中MgO、SiO₂、CaO、Al₂O₃、Fe₂O₃、K₂O、MnO、P₂O₅的X射线荧光光谱(XRF)分析方法。实验方法用于测定1个变质镁砂标样镁砂425中MgO、SiO₂、CaO、Al₂O₃、Fe₂O₃、MnO、P₂O₅,其中K₂O测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)为11%,其他组分的RSD(n=11)均在3%以下;按照实验方法测定2个变质镁砂标样和2个人工合成样品中MgO、SiO₂、CaO、Al₂O₃、Fe₂O₃、MnO、P₂O₅,测定值与认定值/理论值相符,允许差满足国家标准分析方法的分析要求,使变质镁砂标准样品能够回收再利用。     

偏硼酸锂熔融-火焰原子吸收光谱法测定铝土矿中K2O和Na2O含量的研究

研究了以无水偏硼酸锂为熔剂,使用火焰原子吸收光谱仪,熔融测定铝土矿中K2 O和Na2 O含量的方法.结果表明:在900℃下将铝土矿样品熔融20 min,以硝酸溶液为浸取介质,用超声波水浴加热浸取熔融物,可在10～30 min内将固体熔融物转换为澄清的溶液,方法浸取速度快,浸取过程中二氧化硅不聚合析出,极大的缩短了样品溶...     

用XRF测定氧化铝陶瓷成分

介绍了使用X射线荧光光谱法测定氧化铝陶瓷主次量成分。用熔融玻璃片法制样,此方法简单,迅速,成本低。选用铝土矿GBW07177～GBW07182和GSB04—2606—2010系列标准样品,采用仪器软件SuperQ中提供的飞利浦模式的经验系数（Classic）和基本参数法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应,使用Magix（PW2403）x射线荧光光谱仪对样品中的Al2O3,SiO2,Fe2O3,TiO2,K2O,Na2O,CaO和Mg0共8个元素进行测定,各组分的RSD均小于3．36％,测量结果与计算值的误差在化学分析允许差范围内。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素

介绍了X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素的方法。研究了粉末压片法中助研剂丙二醇的选择和用量,考察了氧化铝粒度对X射线荧光强度的影响。试验表明,样品的粒度达到40 μm以下,粒度效应减弱;对于10.0 g氧化铝样品,加2滴丙二醇,研磨40 s,并用硼酸镶边垫底,制备的测量样片效果较好。用系列氧化铝标准样品作校准曲线,对样品中11个元素进行测定,其SiO₂、Fe₂O₃、Na₂O、K₂O、CaO、Ga₂O₃、ZnO测得结果的相对标准偏差（RSD）均小于8.0%,P₂O₅、TiO₂、V₂O₅、Cr₂O₃的含量在3倍检出限以上,RSD小于10%,含量在3倍检出限以下的RSD小于17%。用氧化铝标准样品验证,测量结果与标准样品的认定值基本一致。