磁粉探伤发展现状与展望

介绍我国磁粉探伤设备，探伤材料发展现状，介绍磁橡胶（ＭＲＩ）法和橡胶铸型（ＭＴ－ＲＣ）法及透明胶带测裂纹高度法和磁粉探粉标准化的状况等。     

关于表面和底面附近缺陷的检验与评价的基础研究──横孔位置和反射波高度的关系

1.绪言超声波探伤中，对缺陷的形状、大小和反射波高度的关系进行了种种探讨，特别是明确了当超声波垂直入射到缺陷面时，可以用比技简单的公式计算。然而这些探讨无论哪种情况都假定缺陷位于板厚度的中央附近，不受由表面及底面引起的反射波的压响。但是当缺陷位于表面和底面附近，特别是在斜角探伤中，往往观察到超声波从缺陷面和试件表面与底面分别反射呈三角形路径传播的反射波。比如，在JISZ3060－1988标准中规定用RB一女等那样的横初作对比缺陷试块制作距离波幅特性曲线时，跨距数多，距离一变长，就出现以三角形路径传播的反射波…     

黑度对射线照像底片质量的影响

射线探伤是以射线照像底片来评定探伤结果的。因此，底片质量直接影响检测结果。影响义片质量的因素较多，本文仅就黑度对底片质量的影响进行研究，并对最佳黑度范围等问题进行探讨。