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利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构林清英,张燕征(冶金部钢铁研究总院,北京100081)在研究新工艺和开发新材料的过程中,往往需要了解亚微米范围的成分和结构,而目前在表面分析方法中,扫描俄歇电子显微技术(SAM)主要用于分析2nm深度内的元素。本文根... 相似文献
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利用SAM技术研究了金刚石、β碳化硅晶须和碳化钛粉末的碳KLL精细结构。结果表明,由于碳原子的周围环境不同,含碳材料的表面和内部电子结构发生显著变化,相应的碳KLL谱线的形状有差异,这些信息为开发新材料和改进工艺提供了重要的依据。 相似文献
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连续冷却过程中低碳贝氏体钢的晶界化学 总被引:1,自引:0,他引:1
用俄歇电子能谱仪分析了低碳贝氏体钢奥氏体后炉冷,空冷,油冷和水冷时C,B,P,S等元素在晶界的偏聚行为,结果发现:在不同冷却速度下,各元素在晶界的偏聚量不同,慢冷速,B,P晶界浓度较高,快冷速下S晶界浓度较高。C在晶界的浓度随冷速的提高增加至一定值后趋于平衡,晶界上元素C,B,P,S之间,存在化学相互作用及位置竞争现象,用扫描电镜观察了断口形貌。 相似文献