开孔位置对腔体屏蔽特性影响的数值模拟研究

屏蔽腔体是一种广泛采用的电磁屏蔽措施,然而由于散热等需求,屏蔽腔上会存在一些开孔。在电磁干扰源的作用下,开孔导致的电磁泄漏将对腔体的屏蔽效能造成影响。腔体的屏蔽效能与腔体结构有很大关系,对于结构设计,开孔位置又是一个很重要的方面。以带开孔的金属矩形腔体为研究对象,使用传输线矩阵法(TLM)详细研究了开孔位置,以及腔体谐振频率,对腔体屏蔽效能的影响。分析了仿真屏蔽效能曲线,得到了一些腔体屏蔽效能与开孔位置和谐振频率的关系,为屏蔽腔体的开孔设计提供了一些参考。