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单晶硅的电火花线切割过程中,切削效率与表面粗糙度是两个重要的目标,生产过程中希望提高单晶硅切割效率的同时保证工件表面质量。运用响应曲面法建立关于单晶硅电火花线切割加工过程中切割效率与表面粗糙度的目标函数;采用第二代基于强度帕累托进化算法(SPEA-Ⅱ)得出一组关于切割效率与表面粗糙度的帕累托最优解。在相同条件下将SPEA-Ⅱ得到的帕累托最优解与第二代非支配排序遗传算法(NSGA-Ⅱ)得到的解集进行对比,测试两种算法对目标函数的优化性能。  相似文献   
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