探求电位测定最优方案的电流密度法

用有限元方法(FEM)对紧凑拉伸(CT)试样电位测定的电流场进行了计算。用电流密度法对CT试样电位探测方案进行了分析,提出了缺口根部电流密度集中系数K_1的概念,证明了K_1是电位测定灵敏度的标志。用电流密度法对电位测定方案寻优,可节省机时、分析简单、直观可靠,且有可能用于裂纹萌生及扩展早期损伤机制的研究,     

Apple-Ⅱ微机疲劳裂纹扩展数据采集与处理系统

本文介绍了一套基于直流电位法的Apple-Ⅱ微机疲劳裂纹扩展的数据采集与处理系统。该系统具有电位采集和裂纹监测,绘出da/dN～⊿a和da/dN～⊿K曲线,求出Paris公式da/dN=A(⊿K)~m中参数A,m的功能。附录中给出了一个完整的应用实例。     

侧向线切缝裂纹试样与平面应变阻力曲线

用侧向线切缝的TPB试样进行J_R阻力曲线试验表明:当S_R=(B-B_n)/B≥0.2(S_R为线切缝深度比,B_n为净截面厚度),唇口完全消除,并使单位厚度的形变功U_n/B_n与S_R =0的U/B相近,从而得到相同的J_R积分阻力值,这个方法可以为薄试样测定材料平面应变阻力曲线及其延性断裂韧度特征值提供方便。