波长色散X射线荧光分析的新发展

论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况。除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外，在进一步提高灵敏度，使分析范围扩展到痕量分析范围；开拓微区面分布的元素成像分析；进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨，开发新的高级次谱线分析方法；适应新材料特别是纳米材料的分析要求，对薄膜分析的开拓等方面，已经有了长足的发展。本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况。同时本文引入对无标样分析的基本参数法（FP法）目前发展状况的介绍。     

波长色散X射线荧光分析的新发展

本文从硬件的改进、分析能力的提高、分析方法的完善及应用领域的扩展等几个方面介绍了波长色散型X射线荧光光谱仪的发展现状。     

固定道的基本参数法

多道同时型X射线荧光光谱仪,以固定道作为主要分析方式。由于固定道的弯曲晶体可以具有分光和会聚两方面的功能,所以多道同时型X射线荧光光谱仪具有商品化仪器中最高的灵敏度,最佳稳定性和最快的分析速度。尤其适合在钢铁、有色金属和陶瓷水泥等工业生产领域的应用。近年来,随着材料工业的发展,特别在钢铁工业的新型钢种,包括时效硬化钢TRIP,洁净钢IF,和微合金化技术的广泛采用,对生产过程中快速、高精度的在线分析,提出了进一步的元素分析要求,甚至有时是过去认为苛刻级的要求。为此,多道同时型X射线荧光光谱仪可以更有效地发挥作用。…     

高层建筑墙肢基顶荷载的分布

提出在高层建筑基础设计中被忽略的剪力墙基础顶面荷载的分布问题，它在通常情况下被掩盖而降低了基础设计的可靠度。