磁光旋转谱和磁圆二向色性谱测量

本文描述了磁光旋转谱和磁圆二向色性谱测试装置的基本特性,用该装置测量了(BiTm)_3(FeGa)_5O_(12)薄膜磁光旋转θ的实部θ′和虚部θ″与光波长λ的关系,不同λ情况下YIG单晶的θ′与磁场强度H 的关系。讨论了测试结果,分析了测量误差。指出用磁光诃制倍频法测量磁光旋转谱和磁圆二向色性谱基本上不受激光源幅度变化和光路中其他元器件不稳定因素的影响,在λ=0.65～2.7μm 范围内,测量θ′的重复精度可达±0.005°。     

近红外可调式磁光隔离器

研制了近红外可调式磁光隔离器。计算了亚铁磁性材料磁光旋转的色散关系;设计了可调式磁场系统。有效地改善了磁光晶体的温度特性,外界强磁场和时间老化等因素对磁光隔离器性能的影响;降低了晶体加工的精度要求,提高了磁光隔离器的实用价值。在入射光波长1.3μm和室温条件(27～25℃)下进行了器件性能测试,获得了正向插入损耗<1.8dB,反向隔离比>29dB的实验结果。     

偏振有关光隔离器性能的理论分析

本文系统地分析了偏振有关光隔离器的性能，讨论了光隔离器中各元件的加工精度、表面反射率以及光纤耦合等因素对光隔离器特性的影响。理论分析表明，当各元件表面的光强反射率＜０．２５％，４５°法拉第旋转器的法拉第旋转误差＜４．３°，偏振器Ｐ１和Ｐ２透光轴之间的夹角误差＜０．５７°时，可以得到隔离度＞４０ｄＢ、正向损耗＜０．９ｄＢ的光隔离器。在实验中，我们已成功地研制了１．５５μｍ和１．３μｍ带尾纤的光隔离器，隔离度＞４０ｄＢ、正向损耗＜ｌ．５ｄＢ。