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本文对日本电气公司μPC253型运算放大器进行了解剖分析。主要解剖分析内容是管芯尺寸,元件特性,放大器的性能指标和频率特性。重点是对其功耗进行了测试与分析。 相似文献
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廉绵弟 《仪表技术与传感器》1978,(3)
一、概述完美品体的研究即常说的晶体微观缺陷的研究。晶体的完美与缺陷是对立统一地存在。晶体中存在着缺陷就叫晶体的不完美性,理想的无缺陷的晶体称为完美晶体。晶体中的缺陷有两大类:宏观缺陷和微观缺陷。宏观缺陷常见的有小亮点、星形缺陷、球状体、多晶点、乳突、划痕等;微观缺陷常见的有位错和层错。层错是目前国内外研究微观缺陷的中心,层错除外延层错外还有热氧化堆垛层错等。位错研究中心是晶体形变而产生的位错。完美晶体对提高器件的可靠性、重复性以及封装密度是非常重要的。因为缺陷会影响器 相似文献
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