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本文对日本电气公司μPC253型运算放大器进行了解剖分析。主要解剖分析内容是管芯尺寸,元件特性,放大器的性能指标和频率特性。重点是对其功耗进行了测试与分析。 相似文献
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张献祖 《仪表技术与传感器》1980,(4)
半导体器件的可靠性是指在规定条件下,给定时间内无故障地完成确定功能的概率。我们不可能确切指出一个元件或系统能否正确完成规定功能,而只能计算或预测它们成功工作的可能性。本文主要介绍可靠性基础知识,评定可靠性指标和提高产品可靠性的基本方法。一、半导体器件的失效率任何半导体器件都具有有限的寿命,而寿命和失效率是一个随机变量,它们具有统计特征。器件损坏的期限,也就是失效时间或寿命,是确定器件失效率的重要指标。一般地 相似文献
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