退火温度对掺氮ZnO薄膜结构和光电特性的影响

采用Zn3N2热氧化法在直流磁控溅射设备上制备了掺氮Zn0薄膜(ZnO:N),研究了不同退火温度对样品结构和光电特性的影响.X射线衍射谱(XRD)结果表明,Zn3N2在600℃以上退火即可转变为Zn0:N薄膜.X射线光电子能谱(XPS)发现,在热氧化法制备的ZnO:N薄膜中,存在两种与N相关的结构,分别是N原子替代O(受主)和N2分子替代O(施主),这两种结构分别于不同的退火温度下存在,并且700℃下退火的样品在理论上具有最高的空穴浓度,这一点也由霍尔测量结果得到证实.同时,从低温PL光谱中观察到了与N.受主有关的导带到受主(FA)和施主-受主对(DAP)的跃迁,并由此计算出热氧化法制备的ZnO:N薄膜中的N.受主能级位置.     

项目总结：形成闭环的关键

A公司是一家国内中型IT系统集成公司，有多年的行业系统集成经验，通过多年的经验积累和管理探索、建立了一些项目管理流程和项目管理信息系统。     

实用为本——中原油田图书馆信息系统建设之体会

图书馆信息系统自动化程度的高低,是衡量一个图书馆整体水平的重要标志。因此中原油田图书馆在新馆落成后不久,就着手建设整个图书馆自动化信息系统。对中原油田图书馆来说,如何根据自身的情况,量力而行,使图书馆自动化系统既满足目前的需求,又适应将来的发展呢? 对小型图书馆来说,实用性是确定网络需求和选择技术的首要原则,在硬件的基础设施建设中,中原油田图书馆遵循全面考虑、统筹安排、统一标准、合理利用     

退火温度对掺氮ZnO薄膜结构和光电特性的影响

采用Zn3N2热氧化法在直流磁控溅射设备上制备了掺氮ZnO薄膜（ZnO：N）,研究了不同退火温度对样品结构和光电特性的影响.X射线衍射谱（XRD）结果表明,Zn3N2在600℃以上退火即可转变为ZnO：N薄膜.X射线光电子能谱（XPS）发现,在热氧化法制备的ZnO：N薄膜中,存在两种与N相关的结构,分别是N原子替代O（受主）和N2分子替代O（施主）,这两种结构分别于不同的退火温度下存在,并且700℃下退火的样品在理论上具有最高的空穴浓度,这一点也由霍尔测量结果得到证实.同时,从低温PL光谱中观察到了与No受主有关的导带到受主（FA）和施主-受主对（DAP）的跃迁,并由此计算出热氧化法制备的ZnO：N薄膜中的No受主能级位置.     

宽带波导检波器

波导二极管检波器在微波测量、监控中有着十分广泛的应用.它可以对微波信号(不管是未调制的还是已调制的)进行检波,变为直流信号或低频(调制)信号.这些信号可用直流仪表指示,或经测量放大器放大后用真空管毫伏表读取或示波器显示.在某些特殊的场合,则可用它来监测、控制微波振荡源的工作状态.     

ZnO:LiCl/p-Si薄膜中的施主-受主发光

用溶胶凝胶法(sol-gel technique)在p-Si上制备LiCl:ZnO薄膜.试样分别进行O2-600℃,O2-900℃热退火处理.在77～325K温度范围内作电流-温度(I-T)和深能级瞬态谱(DLTS)测量.DLTS测量获得的两种试样中存在一个稳定的深能级中心.(I-T)测量证实这个深能级中心是与ZnO的本征缺陷相关的.室温PL谱测量得到两种试样存在较强的深能级发光,而紫外发光较弱.由实验结果推测,试样主要的深能级发光过程是电子从双离化Zni**施主能级向单离化V'zn受主能级的跃迁.在O2气氛退火作用下深能级的发光强度增强.     

ZnO:LiCl/p-Si薄膜中的施主-受主发光

用溶胶凝胶法(sol-gel technique)在p-Si上制备LiClZnO薄膜.试样分别进行O2-600℃,O2-900℃热退火处理.在77～325K温度范围内作电流-温度(I-T)和深能级瞬态谱(DLTS)测量.DLTS测量获得的两种试样中存在一个稳定的深能级中心.(I-T)测量证实这个深能级中心是与ZnO的本征缺陷相关的.室温PL谱测量得到两种试样存在较强的深能级发光,而紫外发光较弱.由实验结果推测,试样主要的深能级发光过程是电子从双离化Zni**施主能级向单离化V'zn受主能级的跃迁.在O2气氛退火作用下深能级的发光强度增强.     

UNIX系统的安全问题

本文描述了ＵＮＩＸ操作系统存在的主要的安全漏洞以及从ＵＮＩＸ系统管理员的角度采取的防范措施。     

中原油田社会保险统筹信息系统解决方案

中原油田是中国石油天然气总公司下属的国家特大型企业。从１９９０年开始,经过几年的建设,目前已建成了一个覆盖全油田的网络信息高速公路;开发和建立了许多基于ＵＮＩＸ、ＷＩＮＤＯＷＳＮＴ和ＯＲＡＣＡＬ、ＳＹＢＡＳＥ、ＳＱＬＳＥＲＶＥＲ等的基础数据库。为局领...     

铂电阻温度计及其使用中的误差分析

主要介绍铂电阻温度计的产生发展、结构、用途、分类、技术性能等基本内容,对铂电阻温度计在检定和使用过程中出现的不同种误差做了分析,并提出不同误差的解决方法。