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针对目前逐渐增多的芯片测试需求,设计了双通道约瑟夫森结阵测试系统,包括低温测试探杆、微波传输结构等关键部分。测试系统可实现对两个可编程约瑟夫森结阵器件进行同时测量,还可以实现两个芯片的叠加电压输出,通过对一个双通道可编程器件的测量验证了测试系统的上述功能。所测器件的最佳工作频率为17GHz,在未加功率放大器的情况下工作功率为11 dBm。双通道小电压可编程约瑟夫森结阵器件最小结阵为1个结,输出电压为35.15μV;最大结阵为512个结,输出电压为17 998.42μV,量子电压台阶的展宽范围为2μV,这是由于34 420A(1 V档)噪声和测试系统噪声导致,满足量子电压测试需求。双通道的量子电压单结叠加输出为70.30μV,512个结叠加输出为35 996.84μV,叠加后量子电压台阶的展宽范围也在2μV以内,证明双通道约瑟夫森结阵测试系统不仅能对两个独立可编程芯片进行测量,还能够实现量子电压叠加输出功能,在不增加工艺难度的前提下,实现了更大量子电压的输出。 相似文献
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国家标准采用原子吸收光谱法测定食品中铁含量,其前处理需要灰化等步骤,操作繁琐,耗时耗能,测的为总铁的含量。本文建立了一种三波长邻菲罗啉显色法测定红糖总铁和亚铁含量的方法,先将红糖直接溶解成一定浓度的红糖溶液,然后按照邻菲罗啉显色法并基于423、510和700 nm波长处的吸光度测出总铁的含量,并进行了红糖中总铁含量的回收率试验。红糖溶液在不添加还原剂的情况下按照相同方法测出亚铁的含量。该方法能够有效扣除了红糖中多种色素以及基线漂移对结果的影响,结果发现试验的红糖样品,其中总铁的含量为(13.65±0.29)mg/kg,亚铁含量为(13.29±0.18)mg/kg,以二价铁为主,占总铁含量98%以上;红糖中总铁含量的回收率约103%。本方法避免了灰化前处理时的繁琐,测定较简便,结果准确,适用于生产企业使用。 相似文献
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基于理论设计了一种面内旋转对称的新型5×5分束达曼光栅,研究并优化了光栅制作中曝光、显影及深刻蚀等关键工艺参数。采用接触式曝光和感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术,在石英基底上制作出达曼光栅结构。实验中通过优化石英基底上接触式曝光时间和显影时间,较好控制了曝光图形失真;进一步通过控制ICP刻蚀工艺参数,获得了刻蚀深度为(750±10)nm的石英衬底,实现了达曼光栅器件的制备。通过衍射光学特性评测得到了理论设计的零级衍射场均匀分布的5×5点阵,总的衍射效率达到53%,不均匀性仅为0.19%。实验证明了理论设计与工艺技术的可靠性,为达曼光栅器件的集成光学系统应用奠定基础。 相似文献
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