质谱计场致电离源的计算机模拟

在刀片型场致电离质谱计离子源中,计算电场和离子轨迹的一种计算机模型已有描述,并使用于一种杜邦(CEC)21—110B的场致离子源中,电场的计算是利用一种基于拉普拉斯方程的5点有限差分方法。     

分子电离技术

Ⅰ.引言在质谱分析的起先,分子由中性状态转变到电离状态。这种过程称为分子电离。使分子电离的各种技术能按如下方法来实现。1. 电子轰击技术,发展很快,其应用范围非常广泛。2. 光子轰击技术,最近才发展起来的,需要复杂的设备,对它的利用在将来也许会有所增长。3. 场致电离技术,是过去十年发展起来     

一九七五年上海英国工展分析仪器简介

1975年3月25日至4月4日,在上海举办了英国机床与科学仪器展览,与此同时,进行技术座谈活动。我们参加了有关项目的座谈。英方ARL公司,介绍了该公司两种用于超微量元素分析的新型质谱计:一种是结构简单的等离子体四极质谱计,主要用于水样;另一种是结构复杂的离子微探针质量分析器     

分子电离技术(二)

Ⅲ.场致电离非常强的电场—约为10~8伏/厘米作用在原子或分子上,具有改变原子或分子电位的效应,在如此一种方法中,价电子可穿透位阱,此方法形成的是正电荷的离子。这种称为“场致电离”(FI)过程是基于量子力学隧道效应。分子场致电离最先的实际应用是由E.W.Mueller(25)在场离子显微法     

用双聚焦场致电离质谱计进行在10~(-11)到10~(-5)秒时间内气相离子分解动力学的研究

描述一种用双聚焦场致电离(FI)质谱计进行在10~(-11)到10~(-5)秒内单分子气相离子分解动力学研究的理论和技术。在最短时间间隔内(10~(-11)到10~(-9)秒)的离子分解反应动力学是由所生成的离子的平移动能分布的分析而推导出来的。生成离子的平移动能分布是用改变FI发射极电压而最完善地测量出来。叙述了专门仪器(CEC21—110B)的改进和计算。使用双聚焦仪器主要是为了把单分子离子分解的FI研究与完全使用同位素标示技术结合起来。     

用场致电离质谱法进行表面研究

表面过程在真空科学中起着重要作用,场致电离(FI)质谱计对这种过程的研究是一种多用途的工具。本文评论了(1)FI质谱计的实验技术,不同类型的发射极及其特殊用途(产生高达5×10~8伏/厘米场强的金属针尖;研究金属表面催化反应的锋利的金属刀片或箔片;用于一般分析的由有机微针状体覆盖着的细金属丝)。带有发射极和样品闸锁装置的FI源。FI质谱计的类型。(2) 在强电场中有     

分子电离技术(四)

V.负离子的形成在本节中,将描述负离子产生的两种不同方法: a.在气相中,由单能电子束轰击中性分子产生负离子。 b.在一种“双等离子体源”的等离子区中产生负离子。     

分子电离技术(三)

Ⅳ、光电离 A.引言由紫外光的吸收而电离是分子电离的一种非常新的方法。其重要性迅速地增大。实验上的困难已经克服到这种程度,即在实验室中,目前已有可能作出高质量的杰出的测量。所以,在科学研究中,这是一种非常重要的技术。虽然,与其他电离方法相比较,这种方法在解决特殊问题中有许多优点,但在有机化学分析的应用上仍然是不足的。这主要是由于大而复杂的装备并且需要高的费用。尽管如此,这种方法的发展已那样好地在继续进行,它在有机分