基于图像法和叶面积分布模型的机制雪茄芯片结构检测及应用

本文采用图像法和叶面积分布模型,可实现机制雪茄芯片结构准确检测。利用光学分析仪进行测量,建立芯片叶面积分布模型,用均匀性系数、特征面积参数和长宽比表征芯片结构。结果表明：（1）叶面积分布模型拟合效果较好,均大于0.99;(2)芯片C的均匀性系数最大,面积分布最均匀,芯片D的面积特征参数最大,整体面积最大;（3）芯片A的长宽比最大,芯片C的长宽比最小;（4）通过验证,图像法和叶面积模型可以满足芯片结构检测的应用。综上,图像法和叶面积分布模型可应用于叶片式雪茄生产环节中芯片结构的检测,实现质量监督和片形控制,为雪茄烟叶原料打叶过程参数调整和优化等提供技术依据。