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ICP-AES测定高纯铜中多种杂质元素 总被引:2,自引:0,他引:2
本文利用电感耦合等离子发射光谱法(ICP-AES)测定高纯铜中的多种杂质元素Mn,Fe,Ni,Zn,Ag,Sn,Sb,P,As,Se。对入射功率、雾化压力等分析条件进行优化。该方法简便、快速,可满足分析要求。杂质元素的检出限为2~10μg/g,回收率在85%~105%范围内。 相似文献
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