排序方式: 共有4条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
2.
本文介绍电子能谱非破坏表面组成深度分布的分析方法.在电子能谱实验中,当改变电子发射角(即起飞角)θ时,对于小角度θ值,表面检测灵敏度(即表面和本体的信号比)增加,表面层的信号灵敏度随θ的减小而增强.分析电子谱线信号强度随起飞角θ的变化情况,就能获得样品表面组成深度分布的信息。 相似文献
3.
本文论述利用XPS方法中二次发射电子测量导电高聚物功函数的方法。其测量原理是,被测样品和标准样品二次发射电子分布曲线所对应的起始点的动能之差与它们之间的功函数之差相等。因此,只要已知标准样品的功函数,即可根据上述关系求得被测样品的功函数。用该方法所得到的掺杂聚吡咯的功函数为5·0eV,与文献值一致。用此法测量了由不同聚合方法得到的中性和掺杂聚苯胺的功函数,两者功函数的区别与其结构相吻合。 相似文献
4.
引言近年来,光电子能谱技术获得迅速发展,其应用的深度和广度都在不断扩大。这门技术的基础是精确测定物质中束缚电子的结合能量。能量关系是 E_b=hn-E_k-φ_(sp) 式中,E_b是电子结合能,hv是物质吸收的入射光子能量,E_k是被测样品所发射光电子的能量,φ_(sp)是谱仪材料的功函数。因为φ_(sp)同样品无关,只要它的值不随时间变化,则φ_(sp)的校 相似文献
1