脉冲偏转放大器的设计与实现

静态偏转光点是确保光点测试的准确性和可靠性的重要方法之一。本文介绍一种高稳定性的脉冲偏转放大器，其特点是分别提供行、帧偏转线圈不同脉宽且可变幅度的驱动电流，使偏转线圈工作于脉冲静态偏转状态。测试实验表明这种脉冲偏转放大器是一种静态偏转光点的十分有效的测量设备。     

栅极脉冲放大器的研究与应用

基于CPT＆CDT的会聚误差测量．设计及研究能满足各种测量需求的栅极脉冲放大器不仅是建立和完善会聚测试系统的前提，而且是克服会聚误差测量过程中测试系统自身误差的有效方法．从而使测量精度得到保证。栅极脉冲放大器输出的负偏压下正向高压脉冲的质量取决于其设计方式，而它在不同的应用范围内的设计方式有所不同．这说明它除了适用于会聚误差测量中的栅极脉冲驱动方式，而且它已经推广应用于其它驱动方式。此外，为符合会聚误差测量中栅极驱动脉冲特定带宽的要求，脉冲的高技术指标仍然是不可缺少的因数。     

液晶显示器件运动伪像测量方法分析

运动伪像导致液晶显示器件的动态显示质量下降,制约了其在诸如电视领域的运用。在总结液晶显示器件运动伪像成因,对比现有各种针对液晶显示器件运动伪像测量方法优缺点的基础上,提出并建立液晶显示器件运动伪像预测评估系统,该系统建立在LabVIEW7．1虚拟仪器软件平台基础上,信号数据采集实时、精确,且后期处理方便。实验证明该系统可以满足实际测量工作的需要。     

光点测试仪阴极脉冲放大器的改进设计

介绍光点测试仪阴极脉冲放大器的改进设计,将原光点测试仪阴极脉冲放大器加入电路自控设计和保护电路设计后,使它从基本型电路改进为实用型电路,以满足实际应用中的测试需要。     

彩色CRT偏转误差及测量方法的研究

彩色CRT的偏转误差主要包括会聚误差和光栅误差,测量会聚误差和光栅误差是验证偏转线圈偏转特性的重要手段.会聚误差取决于R/G/B三束在屏上相互之间的距离量,而G束形状则决定了屏上光栅的误差量.基于彩色CRT光点测试系统所配置的一种高精度且又灵活的多功能测试系统,其测量对象是经过偏转线圈自身会聚及光栅误差校正的"裸管"."双光点测量法"的应用可完全消除会聚误差测量中的驱动抖动误差,而运用"单线测量法"可使光栅误差测量过程最简化.因此,测试系统能最大限度地重复运用测量设备,并以最简化的系统配置实施精确的测量.     

光点与会聚测试系统的设备需求与配置

光点测试和会聚测试是验证CPT电子枪偏转线圈性能的重要手段之一。本文提出基于合理的测试方法、有效适当的测试设备 ,建立最佳的测试系统。针对光点测试和会聚测试系统中的各种设备 ,介绍它们的应用原理及应用效果 ,从而了解在测试CPT光点质量和会聚误差过程中测试系统的设计原理及设备配置原理     

一种新型彩色显像管会聚测量系统

本在系统分析会聚测量方法的基础上，着重对我们开发的一套新型的会聚测量设备进行了介绍和研究。该系统采用栅极脉冲电流、脉冲偏转，用微移动法消除荫罩影响修复光点。整套系统由计算机控制、采集、分析。该系统很好地满足了CRT研究开发的需要。     

高分辩率显示器行扫描电路的设计考虑

本文介绍了改良型高分辩率显像管的特点以及与之相匹配的６４ＫＨｚ行扫描电路设计思路和关键元件参数的计算方法。简要介绍了这种高分辩率显示器行扫电路原理并提出改进设想。     

一种新型彩色显像管会聚测量系统

本文在系统分析会聚测量方法的基础上 ,着重对我们开发的一套新型的会聚测量设备进行了介绍和研究。该系统采用栅极脉冲电流、脉冲偏转 ,用微移动法消除荫罩影响修复光点。整套系统由计算机控制、采集、分析。该系统很好地满足了CRT研究开发的需要     

低能电子束扫描技术测量逸出功分布

本文利用低能电子束扫描技术,用慢扫描电路与 x-y 记录仪匹配的方法,分析了表面逸出功分布及其变化。对钡钨阴极的测量表明:它激活前后,寿命过程逸出功分布有明显的变化;氧化物阴极的逸出功分布比钡钨阴极更不均匀。激活良好的阴极,逸出功分布符合 Gauss 分布。本文还观察了 W 与 Si 单晶的低能电子反射现象,测得 Si(100)面自费米能级到导带底的宽度 E_C=1.2eV,电子亲和势 x≈3.6eV。