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机械仪表
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1.
辉光放电质谱法测定高纯锑中的痕量杂质元素
总被引:1,自引:0,他引:1
荣百炼
普朝光
姬荣斌
鲁燕杰
《质谱学报》
2004,25(2):96-96
采用辉光放电质谱法 ( GDMS)对高纯半导体材料锑中的 Mg、Si、S、Mn等 1 4种痕量杂质元素进行测量。对仪器工作参数进行了优化选择 ,并对杂质浓度与溅射时间的关系、质谱干扰对测量的影响及测量的准确性和重现性进行了探讨。实验表明 :样品经足够长时间的溅射 ,可以消除样品制备和处理过程中的表面污染 ,可以为其它高纯材料的检测提供可靠的科学依据。辉光放电质谱法是检定高纯半导体材料的理想工具
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