考虑信号相关性的逻辑电路可靠度计算方法

随着集成电路特征尺寸不断缩小,软错误已经成为影响电路可靠性的关键因素.计算软错误影响下逻辑电路的信号概率能辅助评估电路的可靠性.引起逻辑电路信号概率计算复杂性的原因是电路中的扇出重汇聚结构,本文提出一种计算软错误影响下逻辑电路可靠度的方法,使用概率公式和多项式运算,对引发相关性问题的扇出源节点变量作降阶处理,再利用计算得到的输出信号概率评估电路可靠度.用LGSynth91基准电路、74系列电路和ISCAS85基准电路为对象进行实验,结果表明所提方法准确有效.     

卸灰陶瓷双闸板闸阀堵塞原因分析及解决方案

高炉煤气干法除尘系统中的卸灰阀开关频繁,长期经受磨损性含尘气体的磨损,故障较多,寿命较短。陶瓷双闸板闸阀应用在卸灰工位时耐磨性能好,但是容易因灰尘积聚而发生阀门开关不到位的故障。文章利用solidworks及其自带的CFD模块Flow Simulation对含尘气体流经阀门体腔的流场进行了分析模拟,发现阀门体腔进灰的问题不可避免。为了解决积灰的问题,对阀体进行了改造,设置了吹扫管,阀体外部设置气管接头。同时,气管外接头连接一套气体管路系统。经过改造后的陶瓷双闸板闸阀较好地解决了高炉煤气干法除尘系统卸灰阀寿命短的问题。     

±1100kV特高压直流系列复合绝缘子的设计与分析

】基于±1100kV流系列复合绝缘子所要承受的电气和机械负荷，分析确定了±1100kV直流棒形悬式复合绝缘子产品的结构高度、绝缘距离、爬电距离，对芯棒的外套材料及结构进行了选择，对产品的金具结构、伞裙结构和均压环进行了设计。     

一种高效的门级电路可靠度估算方法

随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一。为了有效评估软差错对电路的影响,该文提出一种基于信号取值概率的门级电路可靠度估算方法。首先计算电路所有节点在软差错影响下的取值概率,然后用故障模拟分析电路整体可靠性。通过对基准电路的实验并与概率转移矩阵方法进行比较,该方法在不损失准确度的前提下,在时间与空间开销方面都具有优势,尤其适合估算特定向量和随机向量激励下电路的可靠度。     

改进产品结构,提高复合绝缘子制造质量

复合绝缘子在我国电力工业上的运用已相当普遍,其产品质量直接影响电力输电线路的安全运行,因此, 严格把握制造质量,不断改进产品结构,提高复合绝缘子使用寿命,已成为复合绝缘子制造业急需解决的重大课题。     

一种多扫描链混合测试数据压缩方法

针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出一种多扫描链的混合测试数据压缩方法。对于含无关位较多的测试向量,使用伪随机向量产生器生成。对于含无关位较少的向量,则直接使用自动测试设备存储。将该方法与另一种基于扫描阻塞的测试方法进行比较,理论分析和实验结果表明,该方法对数据的压缩效果优于单纯用伪随机方式的扫描阻塞测试方法。     

UC控制棒形悬式复合绝缘子端部压接可靠性的研究

棒形悬式复合绝缘子机械可靠性是产品最关键的性能之一,根据采用界面压接金具和芯棒互相作用的机理和特点,使用同时控制压接力和压接尺寸的UC控制压接机,在选择合适的压接模具和操作模式连接下,达到优异的机械性能。声发射技术是监测复合绝缘子压接界面结构组装性能的有效手段,能即时反馈复合绝缘子端部压接界面状态。利用压接曲线的分析应用和声发射波形的监测,来确定复合绝缘子的压接参数和监测产品界面压接的质量,极大的提高了压接界面可靠性,保证了特高压复合绝缘子产品稳定的机械性能。     

一种高效的混合Test-Per-Clock测试方法

该文提出了一种基于内建自测试(BIST)的Test-Per-Clock混合模式向量产生方法。测试由两个部分组成：自由线性反馈移位寄存器(LFSR)伪随机测试模式和受控LFSR确定型测试模式。伪随机测试模式用于快速地检测伪随机易测故障,减少确定型数据存储。受控LFSR测试模式采用直接存储在ROM中的控制位流对剩余故障产生确定型测试。通过对提出的BIST混合模式测试结构理论分析,提出了伪随机向量的选取方法以及基于受控线性移位确定型测试生成方法。基准电路的仿真结果表明,该方法可以获得完全单固定型故障覆盖率,其测试产生器设计简单且具有良好的稳定性,与其他方法相比,具有较低的测试开销和较短的测试应用时间。     

基于伯努利分布的逻辑电路可靠度计算方法

在深亚微米及纳米级集成电路设计过程中,电路的可靠性评估是非常重要的一个环节.本文提出了一种利用概率统计模型计算逻辑电路可靠度的方法,将电路中的每个逻辑门是否正常输出看作一次随机事件,则发生故障的逻辑门数为某个特定值的概率服从伯努利分布;再利用实验统计单个逻辑门出错时电路的逻辑屏蔽特性,根据此方法计算出ISCAS'85和ISCAS'89基准电路可靠度的一个特定范围.理论分析和实验结果表明所提方法是准确和有效的.     

基于差错传播概率矩阵的时序电路软错误可靠性评估

在深亚微米及纳米级集成电路设计过程中,电路的可靠性评估是非常重要的一个环节.该文提出了一种基于差错传播概率矩阵(Error Propagation Probability Matrix,EPPM)的时序电路软错误可靠性评估方法,即先将逻辑门和触发器在当前时钟周期对差错的传播概率用4种EPPM表示,再利用自定义的矩阵并积运算计算多周期情况下的差错传播概率,最后结合二项分布的特点计算时序电路的可靠度.用ISCAS' 89基准电路为对象进行实验,结果表明所提方法是准确和有效的.