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氧化锌电阻片在脉冲大电流作用下可能失效,威胁着电力设备及电力系统安全稳定运行.脉冲大电流作用下,电阻片瓷体的失效形式主要源自于瓷体本身的穿孔和炸裂.显微形貌观测结果表明,穿孔通道处有显著的晶粒熔融痕迹和微裂纹,这说明穿孔通道起源于电阻片电流、焦耳热局部集中,导致瓷体熔融和炸裂.基于未破坏区域和穿孔通道区域的微观分析,首次定义了晶粒尺寸分布的不均匀系数,统计分析了气孔及晶粒尺寸分布.计算结果表明,氧化锌电阻片穿孔通道附近气孔含量较多,且晶粒分布更加不均匀.大量的气孔和不均匀的晶粒尺寸分布使氧化锌电阻片形成显著的电气弱点,大电流作用下电流和由电流产生的焦耳热在此聚集.一方面,局部温度迅速升高,导致瓷体熔融;另一方面,当由温度梯度形成的机械应力大于瓷体的机械强度时,瓷体产生微裂纹.当微裂纹发展贯通之后,瓷体发生炸裂. 相似文献
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本文介绍了SF6开关的产品特点和各地供电局或研究机构对SF6开关的研究成果。并根据杭州局在10kV配电网中应用的柱上SF6开关的运行经验,提出SF6柱上开关的运行维修要点。 相似文献
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基于0.13 μm CMOS工艺,提出并设计了一种应用于三级全差分运算放大器中的新型共模反馈电路。将具有密勒补偿结构的典型两级全差分结构和源随器结构作为三级运算放大器的放大级,通过在共模反馈电路中引入前馈通路,产生的两个零点提高运放的稳定性,解决了传统共模反馈电路中多个极点难以补偿的问题。仿真结果表明,在1.2 V电源电压下,共模下增益为70.4 dB,单位增益带宽为56 MHz,相位裕度为85.5°。相比于传统无前馈电路,新型共模反馈电路的单位增益带宽和相位裕度分别提高了8.2 MHz和17.4°。具有这种共模反馈结构的运算放大器可以实现较低的电源电压和较好的相位裕度。 相似文献
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