磁性磨料和磨粒相粒径对磁力研磨效率的影响

按照逐级研磨思路,采用目数和磨粒相直径不同的磁性磨料(MAP)对304不锈钢进行磁力研磨光整加工(MAF),工艺条件为:磁极转速1 000 r/min,加工间隙2 mm,磁感应强度1.2 T,磨料填充量2 g。依次采用磨料目数与磨粒相粒径为50~80目/W40、80~120目/W40、120~200目/W7、200~300目/W7的磁性磨料研磨工件2、2、3和5 min(总研磨时间为12 min),工件表面粗糙度由初始的0.646μm降至0.021μm,材料去除量为42.3 mg。而采用200~300目、磨粒相粒径为W7的单一磁性磨料研磨工件时,要降至相同的表面粗糙度耗时30 min。因此,合理选用不同规格的磁性磨料对工件进行逐级研磨能大幅提升研磨效率,使工件表面质量在短时间内就得到明显改善。     

基于Windows 2000下开放式数控系统软件的开发

基于PC机和Windows操作系统的开放式数控系统是数控技术的大势所趋.文章首先介绍了数控机床的发展历程,并分析传统数控系统不足和基于PC的开放式数控技术的优点的基础上,论述了基于Windows2000操作系统下,开放式数控系统软件的研究和开发过程.重点阐述了在Microsoft Visual C 下系统人机交互界面的设计、工控PC机控制运动控制卡的接口软件模块、PC机与主轴控制变频器的RS485串行口通讯软件模块的的编写,同时给出了主要程序代码.该数控系统现在已经在调试之中,并且达到了预期的加工精度和效果.     

基于Catmull-Rom插值算法光栅分辨率测试系统改进

为了减小探测器采集及软件处理导致的系统误差,提高光栅分辨率检测精度,利用半宽度法设计了一套满足李特洛条件的阶梯光栅分辨率检测系统。搭建了系统的光路,介绍了提高分辨率的方法,重点分析了探测器像元尺寸对系统分辨率测试精度的影响,提出了在LabVIEW软件中如何根据离散光谱信号并利用Catmull-Rom插值构造出连续光谱,提高半宽度法检测的精度。实验结果表明,在高分辨率测试系统中,通过软件算法对离散信号进行拟合分析,能有效的解决由像元尺寸造成的系统误差。     

基于PLC的50 kV三相耐压测试系统

根据电气设备高、低压试验要求,鉴定试品耐高压冲击性能和耐高压能力,设计了以PLC为主控设备、以LabVIEW为上位机软件的交流耐压测试系统.本系统由调压器、扼流电感以及变压器组成,由上位机设置任务参数并由PLC采用符号判别法控制系统输出,对试品进行耐压测试.测试数据表明该系统具有较高的电压控制精度,满足工频耐压鉴定需求,具有较好的应用前景,为高压设备耐压测试提供了一种有益的技术参考.     

基于PIC单片机的超声波测距系统

利用超声波测量距离是一种有效的非接触式测距方法,本文介绍了PIC单片机控制的超声波测距系统的原理,给出系统的硬件构成和软件控制流程,并在数据处理中采用了温度补偿修正。此系统具有易控制、工作可靠,测距精度高的优点。     

数字PID调节器应用中的几个技术问题

本文就数字PID调节器应用中的正、反作用、积分饱和、限位及手动/自动无扰动切换等几个技术问题进行了讨论,并提出了具体软件解决办法.     

金川集团公司转供水的经营管理

本文结合转供水现状和集团公司的发展，对当前转供水工作中存在的问题进行分析探讨，并初步提出解决方案供参考。     

线阵CCD光谱分辨率检测系统设计

在分析光谱测试仪器检测设备发展现状的前提下,为解决光栅分辨率测试仪器中存在的电路复杂、探测器灵敏度低、结构可变通性差等问题,设计了一种以线阵CCD ILX554B为探测器的、以STM32F103为主控单元的线阵CCD光谱分辨率检测系统。系统利用片上高速时钟产生线阵CCD所需的驱动时序,经片上ADC采样后获取实时的光谱数据,将采集的数据经USB接口上传给上位机进行处理,获得最终的被测分光器件的光谱分辨率信息。最后,分别以汞灯和氩灯为光源,利用所设计的系统对光栅分辨率进行了测试,实验数据表明,在500 k Hz的驱动频率下,系统光谱分辨率可以达到0.01nm。系统满足低成本、高精度、稳定和可靠等要求。