Nb-Ge超导带表面薄层铌锗原子比的X—射线荧光光谱测定

用高频悬浮熔炼法使预先配好的铌、锗混匀粉末压块合金化。取少量合金粉末用清漆调和,均匀涂于Ni—Mo—Fe基带上,作为薄膜的校正标准。采用单条带在仪器上测量。校正曲线用铌、锗的强度此对原子比绘制,为一直线。实际试样测定结果与化学分析基本一致。单次测量的相对标准偏差为0.86%。     

铅锌矿及其选矿产品中铅锌的X射线荧光测定

铅锌矿及其选矿产品,包括原矿、铅精矿、锌精矿、铅、锌中矿及尾矿各种不同类型矿样,其含量变化范围广,基体成份变化大.用粉末法,很难消除基体效应和粒度影响;用溶液法,则因溶液本底强度高及大倍数稀释,又难以测定低含量的铅锌.本文用焦硫酸钾熔融试样,铋作铅和锌的共用内标,较好地克服了基体效应、矿物效应和粒度效应.可在同一测试条件下对不同含量范围、不同类型的铅锌矿样进行测定.     

X—射线荧光溶液法测定矿石中的钨

本文研究了用磷酸溶样,镍为内标、X荧光法测定钨的条件。克服了粒度、矿物学。基体效应.补偿了仪器漂移的影响。大量Mo,Pb,Zn,Cu,Ca,Mn,Fe等没有干扰。适于测定0.2—80%WO_3的各种类型矿样及液体样品。对含WO_3为5.83%及69.81%的试样,标准偏差分别为0.04和0.17。X荧光仪与电算机联机处理数据。方法快速准确。     

应用于X—射线荧光分析的内标—线性插值法数据处理程序

本文比较了VRA_2—DJS_(110)联机处理X射线荧光分析内标法数据的各种方法,指出了用线性插值法作为这种处理的数学模型的可能性,并通过生产的实践,显示出应用这种模型所编制的程序,具有程序简单、操作方便、分析结果的准确度高诸特点。应用本程序,使VRA_2谱仪全自动化,从而大大地提高了工效。     

用VRA-2全自动X射线荧光分析仪测定镍矿尾矿中的镍和铜

一、前言我们曾用粉末压片的方法测定镍矿尾矿中的镍和铜,对铜取得了满意的结果。但由于镍矿难于磨细,颗粒度效应和均匀性影响使镍的分析结果不够理想。本文采用溶液法,消除了上述影响,同时也基本上消除了试样的基体效应。在选矿流程控制分析中,分析对象有时为水样,溶液法就可以用一条工作曲线同时适应固体矿样和水样的分析。加入内标元素,除进一步消除基体效应     

锡石细泥中锡的X荧光光谱分析—粉末内标法

本文介绍X射线荧光光谱粉末内标法测定锡石细泥中的锡,以锑为内标元素、以硼酸为稀释剂。长期的实践证明,本法能测定以铁硅铝等元素为土要基体的不同矿区的锡石细泥中的锡,方法简便、快速、经济、数据准确,满足了选矿工艺的要求。     

X荧光光谱法连测铅锌铜铁

本法研究了用H_3PO_4-HClO_4混合溶样,Sr,Ni分别作Pb、Zn,Cu,Fe的内标元素,X荧光光谱法连测Pb,Zn,Cu,Fe的条件。该方法适用于各种不同类型的矿样,从千分之几到百分之几十都能测量。为Pb,Zn,Cu,Fe的快速、准确、简便分析提供了一种好的方法。