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1.
基于两层均匀媒质的GPEN SAR地下目标成像方法及其性能分析 总被引:3,自引:0,他引:3
地表穿透合成孔径雷达(Ground PENetration SAR,GPEN SAR)为了探测掩埋在地下的目标,通常工作在多层媒质的环境中。传统成像模型是建立在同一均匀媒质的假设上,不再适合于GPEN SAR的实际情况。本文首先建立了两层分区均匀媒质中的成像模型,然后利用后向投影(BP)算法定量分析了成像几何参数、土壤参数等对成像的影响,进而提出了一种修正的后向投影(MBP)算法。MBP算法不仅能够校正两层分区均匀媒质对成像定位的影响,还能估计目标的掩埋深度,提供目标三维位置坐标。仿真结果验证了MBP算法在不同信噪比环境下,对多目标的三维定位精度能满足实际的需要。 相似文献
2.
3.
针对具有方位谱混叠现象的斜视聚束式合成孔径雷达(SAR)成像问题,本文研究了一种基于去调频技术的成像方法.文中首先分析了斜视聚束SAR中的方位谱混叠现象,从理论上找出了斜视角影响方位粗聚焦的根本原因.基于分析结果,引入了回波信号非线性相位校正预处理法,彻底消除了斜视角的影响,从而得到正确的粗聚焦结果.然后基于斜视成像模型,推导了预处理回波信号的方位粗聚焦和精聚焦处理过程.在精聚焦的方位滤波处理中,针对非线性相位校正预处理导致的场景聚焦深度限制问题,提出了一种改进的非线性调频变标(NLCS)算法,实现了回波信号的高精度方位压缩.仿真实验结果证明了文中理论分析的正确性和所提方法的有效性. 相似文献
4.
圆周合成孔径雷达(Circular Synthetic Aperture Radar,CSAR)可以对目标进行360°全方位观测,获得目标全方位散射信息。通过将CSAR成像数据划分成多个子孔径能够直接获取目标高度信息,本文在原有获取目标高度信息的方法基础上,进行了改进和创新,提出了一种新的提取目标高度信息的方法。本文通过对子孔径图像进行高度向投影,在一定程度上提高了计算精度,同时在子孔径选择时,也考虑了子孔径之间的相关性,有效地提高了算法的精确性。最后首次引入自主测量的L波段实测数据对本文所提算法进行验证,证实了该方法的有效性和准确性。 相似文献
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7.
后向投影(BP)是一种精确的时域合成孔径雷达(SAR)成像算法,但是其巨大的运算量很难满足实时成像的要求,图形处理器(GPU)具有强大的浮点运算和高度的并行处理能力,为BP算法的实时成像提供了一个很好的平台。提出基于GPU的并行化BP算法,利用了四种优化方法对并行化BP算法进行加速,并且针对共享存储器的bank冲突问题提出了相应的解决方法,减少了共享存储器访问时间。最后给出仿真数据的成像结果,结果表明,与传统的基于CPU单线程的BP算法相比,成像速度可达到70倍以上的提升。 相似文献
8.
本文借鉴高频合成孔径雷达(SAR)目标检测中多分辨率特征分析方法,结合超宽带合成孔径雷达(UWB SAR)工作体制和树干杂波的特殊性,详细分析了UWB SAR目标检测中树干杂波和目标多分辨率特性的区别;构造了多分辨率差分序列,并采用一阶AR模型实现了对多分辨率差分序列的建模;给出了基于多分辨率的广义似然比(GLR)定义,并提出了利用感兴趣区域(ROI)内GLR之和来确定ROI真假属性的判别方法;针对树干杂波和目标的模型训练分别提出了预先训练和现场训练的方法,大大提高了多分辨率特征提取的稳健性;基于实际UWB SAR图像数据的试验结果证明了利用多分辨率特征降低ROI虚警率的有效性。 相似文献
9.
折射对地表穿透合成孔径雷达成像影响定量分析 总被引:1,自引:0,他引:1
分辨率和空间位置定位精度是合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar,SAR)图像的重要参数。传统成像模型是建立在同一均匀媒质的假设上,而地表穿透合成孔径雷达(Gmund PENetration SAR,GPEN SAR)为了探测掩埋在地下的目标,通常工作在多层媒质的环境中,传统模型不再适合。文章首先建立了分区均匀媒质中的成像模型,在此模型基础上,推导了两层媒质时后向投影算法的积累轨迹误差。然后利用实际与理论方位分辨率之比、积分旁瓣比和定位偏差定量分析了两层媒质表面的折射效应对成像质量和定位精度的影响,为校正土壤折射对成像的影响提供有益参考。 相似文献
10.
距离迁移(RM)算法能够精确校正近场距离徙动,同时通过使用快速傅里叶变换可以达到很高的计算效率,具有应用于近场MIMO雷达三维实时成像的潜力。RM算法应用于近场MIMO成像的主要挑战是设计合适的阵列结构。文中利用球面波分解为无穷多个平面波的方法推导了MIMO雷达近场三维RM 成像算法,在深入分析算法实现流程的基础上得
到了RM算法对MIMO阵列构型的四条约束条件。提出了一种适用RM算法的MIMO阵列设计方法,并利用所提方法设计了MIMO阵列,结合仿真,分析了所设计阵列的成像性能。 相似文献