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自动络筒机运行速度高 ,细纱管纱尤其是纺制的粗号纱管纱容易出现退绕脱圈现象。针对这一普遍存在的问题 ,我们深入分析 ,了解到钢领板升降短动程不足 40mm ,又根据纺织机械设计原理 ,从形成细纱成形的卷绕机构入手 ,找出凸轮转子的总动程设计小是造成细纱成形高速退绕脱圈的直接原因。因此 ,对成形凸轮进行了精密的设计计算 ,经大量的生产试验 ,细纱高速退绕脱圈现象得到了彻底解决。1 细纱成形影响因素分析通过卷绕成形凸轮控制钢领板的运动 ,完成细纱的等螺距卷绕成形。细纱卷绕形式如图 1所示。图 1 细纱卷绕成形示意图图 1中H0 为升… 相似文献
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计算机辅助孔型设计(CARD)技术的应用与发展(三) 总被引:1,自引:1,他引:0
计算机辅助孔型设计(CARD)技术的应用与发展(三)⒇赵俊萍鹿守理曲扬(北京科技大学压加系,100083)THEAPPLICATIONANDDEVELOPMENTOFTHETECHNOLOGYOFCOMPUTERAIDEDROLLDRAUGHTING... 相似文献
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很多情况都可以导致CMOS数字集成电路产生大的电源电流,但以CMOS的输入处于Vilmax与Vihmin之间的转折区而产生的大电流最为常见;而且其影响很重要,甚至会导致闩锁效应而对电路造成损坏。转折区的危险电平由管脚浮空、误操作、输入脉冲的上下沿和双向I/O这几种状态所产生。对每一种状态的影响及其原因进行了详细的分析,给出了解决的方法。对电路设计、试验、测试和分析具有一定的参考价值。 相似文献
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介绍了升级后的KJ75系统,消除了安全隐患,解决了原系统存在的不足;井下工作面一旦发生监控设备故障,立即就能把工作面正副巷非本安电气设备的电源切开,实现了故障闭锁;探头显示精确,断电可靠,中心站系统软件应用灵活. 相似文献
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集成电路绝缘氧化层ESD击穿机理探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
在集成电路绝缘氧化层ESD介质击穿物理模型的基础上,讨论了绝缘氧化层加上一次线性电场条件下发生介质击穿的机理. 相似文献
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集成电路开短路失效原因探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
对过电应力引起的CMOS集成电路的开短路失效模式,从电路结构、导电通路、误操作等方面进行了失效原因探讨。列举了一些过电应力的来源,说明了电压或电流幅度很小也可导致过电应力烧毁,从而说明了根据失效模式来寻找过电应力来源的困难性。对失效分析、故障归零将有很好的参考价值。 相似文献
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在高碳钢的拔丝生产中,温升是影响拔后钢丝性能的主要因素,本文在一条具有静动压相结合的强制液体润滑装置的试验线上研究钢丝温升规律及各工艺参数对它的影响;温升对拔后钢丝性能的影响;并进行了普通润滑拉拔与强制液体润滑拉拔的比较试验。结果表明,强制液体润滑在高速拉拔时具有很大的优越性,钢丝温度降低,拔后钢丝性能得到改善。 相似文献