高炉铁水硅含量预报的ICA-SVM建模方法

提出了一种基于改进的动态独立分量分析（independent component analysis, ICA）和支持向量机(support vector machine, SVM)的高炉铁水硅含量预报模型建模方法．采用动态ICA方法对样本数据进行特征提取,消除生产工艺参数之间的相关性．在此基础上,再使用目前计算复杂性较小的最小二乘SVM算法建立高炉铁水硅含量预报的动态递推模型,并引入了遗传算法以优化模型性能．以某钢厂高炉实际生产数据进行了应用实验,并与现有的时间序列分析、人工神经网络和基本SVM建模方法进行了对比．实验统计结果表明,本文方法显著提高了铁水硅含量的预测命中率．     

振动沉管挤密砂桩施工技术

结合南水北调工程实例,介绍了挤密砂桩设计方法、施工工艺、关键环节质量控制。经检测,该方法能有效地消除砂土液化问题,提高地基承载力,降低施工成本,提高经济效益。     

地质勘查钻机电液比例液压系统设计

为满足地质调查、工程勘察的需要,设计了JDD-100型地质勘查钻机电液比例液压系统.给进机构液压系统采用电液比例遥控恒压泵控技术,实现了给进力的自动控制,同时具有较好负载适应能力,高效节能.回转机构采用电液比例变量泵控技术,转速由程序自动控制,抗干扰能力强,具有较好的硬机械特性.实验表明液压系统运行情况良好,各项技术指标达到了设计要求.     

不同厚度PZT薄膜的制备及电性能特性研究

采用sol-gel（溶胶-凝胶）法在Pt/Ti/SiO2/Si基底上分别制备了厚度为400nm,600nm,800nm的PZT（锆钛酸铅,Zr/Ti=52/48）薄膜,研究了厚度对薄膜介电性能与铁电性能的影响。通过对薄膜的铁电性能与介电性能进行测试,分析了不同厚度薄膜的剩余极化强度、介电常数与介电损耗;通过对介电调谐率与最大正切损耗的计算,进一步分析了薄膜的介电调谐性能。实验结果表明,薄膜的介电常数与介电损耗随薄膜厚度的增大而增加;厚度为600nm的薄膜具有最好的介电调谐性能与铁电性能。     

多层PT/PZT薄膜的结构特性研究

通过溶胶-凝胶（Sol-Gel）法在Pt/Ti/SiO2/Si基底上制备了多层PT/PZT（PbTiO3/Pb(Zr0.52Ti0.48)O3）薄膜,研究了不同退火时间对其纳米结构、结晶性能及相变特性的影响。利用FESEM测试了不同退火时间对薄膜纳米结构的影响,选用XRD与Raman分析了薄膜的结晶取向及相变特点。实验结果表明,随着退火时间的增加,薄膜的三方相向四方相转变,并具有（110）择优取向。退火时间为20 min是PZT薄膜的最佳退火时间,此时薄膜的结晶效果良好、晶粒大小均匀、具有纯钙钛矿结构,此种结构的薄膜有望应用于MEMS器件中。     

山地丘陵地区便携式钻机钻杆接头防松器的设计与使用

在拧卸钻杆时为了保护动力头钻杆接头,防止其磨损,通常的做法是在该接头处联接一个保护接头。设计了一种防松器,在卸扣时防止保护接头与动力头钻杆接头脱开。这种防松器结构简单,使用方法简便。     

基于黑硅吸收层的多层组合纳米膜红外探测器敏感元件的制备及研究

采用sol-gel（溶胶-凝胶）技术在SOI 基底上制备了多层组合结构的纳米薄膜（PT/PZT/PT～PT/PZT/PT）,采取金属键合技术,将薄膜作为敏感元件翻转与另一高热阻抗基底对接键合,然后腐蚀SOI 上的底层硅和氧化硅,最终SOI 材料上制备出具有锥状森林结构的黑硅作为吸收层得到一种新颖的敏感元件。重点开展高检测性能的薄膜结构和黑硅吸收层的加工工艺及其敏感机理研究,为实现气体传感器微型化、集成化与批量生产奠定技术基础。     

基于两路GPS信息接收和切换的无线信标机设计

针对黑匣子等存储器在复杂环境如弹体被沙土覆盖,或者掉在河流、水库里面时难以找寻的问题,设计了一种基于两路GPS信息接收和切换的无线信标机。控制电路采用C8051F040单片作为主控芯片,控制两路GPS模块的切换从而增加了无线信标机的工作时间,提高定位精度并降低功耗。实验测得UTC时间11:37:30,北纬38.0136度,东经112.446度,海拔高度为815.9米。结果表明,该系统能实现动态环境的精确定位和准确接收到定位数据,并通过上位机显示。     

小兴安岭西南麓找水方向和成井工艺

小兴安岭西南麓地区受地质构造单元的影响,地质和水文地质条件复杂,在该地区找水布井与成井技术难度很大。本文提出了在该区的找水方向和成井工艺,结合本区水文地质调查结果可以大大提高成井率。     

不同结构多层PZT薄膜的制备及性能特性研究

采用相同的工艺分别制备了锆钛酸铅(PZT,r(Zr)/r(Ti)=52/48)与钛酸铅(PT)两种前驱体,并通过溶胶-凝胶(Sol-Gel)法在Pt/Ti/SiO2/Si基底上分别制备了PZT,PT/PZT-PZT/PT,PT/PZT/-/PZT/PT 3种不同结构的多层PZT薄膜。利用场发射扫描电子显微镜(FESEM)测试了薄膜的结构,选用XRD分析了薄膜的结晶取向,采用阻抗分析仪测试了薄膜的介电常数、介电损耗及电压-电容曲线,使用铁电性能测试系统测试了薄膜的铁电性。实验结果表明,PT/PZT/-/PZT/PT结构的薄膜相对于其他两种结构的薄膜具有较高的红外探测率与剩余极化强度及较小的介电损耗,具有强大的应用潜能。