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1.
用X射线荧光分析法对珍贵邮票进行快速鉴定的技术   总被引:4,自引:0,他引:4  
在有关邮票鉴定实验结果的基础上,编写了X射线荧光分析技术对珍贵邮票快速鉴定的在线分析程序,该程序将测量,数据获取,判别分析,邮票数据库调整等工作集中在一起,在测量的同时可完成数据获取和判别分析等工作,使得分析判别工作在测量过程中完成,并将判别结果及时反馈,以便测量者决定测量工作的进行与否,使鉴定结果在尽可能短的时间内给出,从而使得鉴定技术趋于实用化。  相似文献   
2.
PIXEANDIXXANALYSISOFMUSEUMPAPERLIKEOBJECTSWuXiankang(邬显慷)(InstituteofNuclearResearch,theChineseAcademyofSciences,Shangai20180...  相似文献   
3.
自由电子激光原理和进展   总被引:1,自引:1,他引:0  
赵小风  杨福家 《核技术》1992,15(9):559-568
  相似文献   
4.
背散射是物质表面分析的一种有用工具。本文简要介绍了背散射的原理和常用的分析方法,给出了用背散射技术测量金属和非金属厚度、分析硅中掺砷含量、测量Si_3N_4样品的化学配比、分析离子注入样品、测量氯元素在二氧化硅中的深度分布等实验结果。  相似文献   
5.
The Shanghai FEL (SFEL) project at SINR is based on a RF linac in collaboration with the SIOFM. The prime goal of the project is to provide laser beams from the ultraviolet,visible to mid-IR with a few tens of MW in peak power and of Watts in average power. In the future, the wavelength region will be extend to the far-IR and vacuum ultraviolet. The SFEL will be a user facility for interdisciplinary studies.  相似文献   
6.
本文阐述了近十多年来基于小加速器的核分析技术(PIXE、RBS、NRA、AMS等)以及医学显像核技术(γ照相、SPECT、PET、NMRI等)的研究进展。  相似文献   
7.
The K-shell ionization probability Pk was measured as a function of Ep across the strong resonance 56Fe(p,p)56Fe at 2.522 MeV and about 50 % variation was observed. For a large ratio of the K-shell binding energy to the total width of the nuclear resonance, Uk/Г≥5, the present experimental result is still in good agreement with theoretical calculation based on Blair and Anholt's formula.  相似文献   
8.
IXX (or PIXE-induced XRF) technique gains two main advantages over conventional PIXE method. First, it can be used to avoid or significantly reduce background and spectral interferences from major elements in the sample by proper selecting the primary target. Second, target damage is greatly reduced, so that it is more suitable for the analysis of heatsensitive and delicate specimens. A new IXX system with a very tight geometry is described. Some of its performances and preliminary applications are presented.  相似文献   
9.
本文概括了我们对氡及其子体测量方法的研究进展,主要有:(1) 滤膜法测氡子体。发展了一个滤膜法测氡子体的一般公式,现有文献中的各种有关公式均是其特例。它使用方便,只要一张TI-59型计算器磁卡,即可导得任意条件下的具体公式。(2) 双滤膜法测氡。作为上述公式的推论,导出了双滤膜法测氡的一般公式。依此可导得Thomas公式,并解决了Thomas采用扩散系数不合理的困难。(3) 气球法测氡。导得气球法测氡的一般公式,使我国独特发展的气球法(比双滤膜法灵敏度高、速度快)有了理论基础,省去了实验校刻工作,使其成为一个独立的测量方法。 文末把理论计算与实验结果作了比较。  相似文献   
10.
1983年在美国亚里桑那州州立大学召开了第六届国际离子束分析会议。这次会议的侧重方向是低能离子散射。近年来,由于超高真空技术、高速计算机、飞行时间方法、离子源等技术的发展和应用,散射截面、射程、阻止本领等各种基本参数的精确化,促进了低能离子散射技术的发展,使它成为表面结构分析中的重要手段。必须指出,上述多方面技术的进步所产生的影响,不仅仅局限于低能离子散射,而是遍及离子束分析的整个领域。  相似文献   
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