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FPGA市场已经进入极速发展时代,不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件。随着FPGA器件的迅速发展,FP-GA的密度和复杂程度也越来越高,使大量的故障难以使用传统方法进行测试,因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义。为此重点研究了动态重构FPGA及其基本结构、特点;在此基础上探讨了基于BIST技术的FPGA时延故障测试方法,并成功应用于Lattice ORCA 2C系列FPGA中。实验证明,该BIST方法是可行且有效的,并且不需要昂贵的ATE设备。 相似文献
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集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段.CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题和相关标准,包括IEEE 1149.1-1990到IEEE 1149.6-2003,IEEE 1450,IEEE 1500,IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准.总结了集成电路测试标准的特点和最新进展,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性,并对今后集成电路测试技术标准的发展给出了预测. 相似文献
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对模糊免疫算法应用于模拟电路故障诊断进行了研究;首先简要介绍了免疫系统的工作机理及一些基本概念,然后在此基础上构建出一种模糊免疫算法,并将免疫算法和模糊聚类法结合起来进行故障诊断;人工免疫算法起到学习样本的作用,以寻找到各样本组的聚类中心;而模糊聚类算法则准确地完成对样本的分类任务;仿真实例表明:立足于模拟电路故障诊断字典法,该算法对模拟电路故障诊断非常有效。 相似文献
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