苹果糖度的光谱模型温度补偿设计

目的 为减少温度对便携仪器近红外光谱模型预测的影响, 尝试构建局部温度混合校正模型, 结合温度信息来预测不同温度下的苹果内部品质。方法 以16、24、32 ℃贮藏温度下红富士苹果为原料, 分别用内置微型光谱仪的自制便携式水果分析仪器获得其透射光谱, 结合温度传感器获取环境温度, 用阿贝折射仪测定苹果糖度。建立单一温度校正模型、全局温度混合校正模型和局部温度混合校正模型对不同温度的样本进行预测。结果 单一温度校正模型对不同温度下苹果糖度预测均方根误差为0.474~3.125% Brix; 当采用全局温度混合校正模型时能降低温度对光谱的影响, 预测均方根误差分布在0.488~0.533% Brix。根据待测样本的温度来构建多个局部温度混合校正模型, 对不同温度下苹果糖度的预测均方根误差为 0.462~0.500% Brix。结论 局部温度混合校正模型可以结合样本温度信息预测苹果糖度, 降低温度对模型的影响, 同时能减少初期建模成本。     

TiO_2薄膜的制备及其对304不锈钢防腐性能的研究

采用过氧钛酸溶胶凝胶法(sol-gel)制备TiO2溶胶,并用浸渍-提拉法在304不锈钢(304SS)上制备TiO2薄膜。利用X射线衍射仪(XRD),原子力显微镜(AFM)和紫外-可见分光光度计(UV/Vis)表征了TiO2晶型、薄膜表面形貌以及光吸收性能。通过极化曲线法分别研究了在暗态和光照条件下TiO2薄膜对304SS的防腐性能。结果表明:在暗态下,镀膜厚度为240.7nm,表面粗糙度为3.64nm的TiO2薄膜有最佳的机械防腐性能,腐蚀速率可从6.32×10-6 mm/a降低到5.65×10-9 mm/a;在光照条件下,膜厚294.3nm,处理温度为400℃,只有单一锐钛矿晶型的TiO2薄膜,对304SS的阴极保护性能较好,腐蚀电位可由-130mV降到-319mV。     

TiO2薄膜的制备及其对304不锈钢防腐性能的研究

采用过氧钛酸溶胶凝胶法（sol-gel）制备 TiO2溶胶,并用浸渍-提拉法在304不锈钢（304SS）上制备TiO2薄膜。利用X射线衍射仪（XRD）,原子力显微镜（AFM ）和紫外-可见分光光度计（UV/Vis）表征了 TiO2晶型、薄膜表面形貌以及光吸收性能。通过极化曲线法分别研究了在暗态和光照条件下TiO2薄膜对304SS的防腐性能。结果表明：在暗态下,镀膜厚度为240．7 nm ,表面粗糙度为3．64 nm的 T iO2薄膜有最佳的机械防腐性能,腐蚀速率可从6．32×10-6 mm/a降低到5．65×10-9 mm/a;在光照条件下,膜厚294．3 nm ,处理温度为400℃,只有单一锐钛矿晶型的TiO2薄膜,对304SS的阴极保护性能较好,腐蚀电位可由-130 mV降到-319 mV。