辉光放电质谱法测定高纯钴中痕量杂质元素

采用辉光放电质谱法(GD-MS)测定高纯钴中Na、K、Fe、Ni、Cu等14个痕量杂质元素。找出了合适的样品预处理方法,讨论了最佳仪器工作参数和样品预溅射时间的选择,探讨了如何选择合适的分析同位素及分辨率模式来减小同位素干扰的影响。分析了GD-MS测定痕量杂质元素的精密度,并将分析结果与高纯钴样品出厂标定值进行比对以验证GD-MS无标直接分析的准确程度。结果表明,辉光放电质谱法是直接分析高纯钴材料的有效分析方法。     

基于YOLOv5的违章建筑检测方法

针对无人机图像中违章建筑多为小目标且存在部分遮挡目标导致的检测速率慢、误检率高的问题,提出一种基于YOLOv5网络的违章建筑检测方法。在原来的批量标准化模块开始和结束处分别添加中心和缩放校准增强有效特征并形成更稳定的特征分布,加强网络模型的特征提取能力。用平滑处理后的KL（Kullback-Leibler）散度损失函数替换原损失函数置信度中的交叉熵,进一步提高模型的泛化性能。对YOLOv5的主干特征提取网络进行改进,将残差模块替换为LSandGlass模块减少信息损失并剔除低分辨率的特征层以减少语义丢失。实验结果表明,与原版的YOLOv5相比,改进后模型的训练更容易使得网络收敛,检测违章建筑的速度有了较大提升,同时提高了检测的精确度。     

基于RBF神经网络区域划分-分块补偿的储油罐用温度传感器非线性补偿

由于储油罐温度场分布规律复杂,因此采用温度传感器进行储油罐温度数据测量时需要进行误差补偿,提出了一种基于RBF神经网络区域划分-分块补偿方法。根据储油罐温度场分布规律及温度传感器安装布置,将罐内空间划分为若干个区域。利用RBF神经网络对各个区域内的温度传感器分别构建相互独立的补偿模型进行非线性补偿。实验表明,与多种补偿方法相比,该种方法模型结构简单,补偿后的储油罐用温度传感器误差大幅减少。     

基于降雨湿度场分布的膨胀土基坑稳定性分析

膨胀土的膨胀势将给工程的安全性带来严重的影响.降雨是诱发膨胀土基坑含水率变化的重要因素,文章分析了在降雨条件下的基坑湿度场分布规律;通过湿度场的变化以及膨胀力的机理,探讨了膨胀力在基坑中的分布规律;根据条分法计算原理,在极限平衡条件中考虑膨胀力,并给出了考虑膨胀力的基坑安全系数计算方法.在数值模型中,将湿度场中的膨胀力...     

光电直读光谱法检测高锡铅锭中的锡含量

运用光电直读光谱法检测铅锭中范围在0.00019％～5.32％的锡含量.通过增加自制标准样品,在原检测范围为0.00019％～0.094％的测量方法基础上将分析曲线中含量最高点扩展至5.32％;探讨了扩展检测范围后分析曲线的调整,以此推断出当分析曲线为二次方程时能同时兼顾低含量锡的检测,是最合适的分析模式;使用SPEC...     

结合社交网络图的多模态虚假信息检测模型

针对现有虚假信息检测方法主要基于单模态数据分析,检测时忽视了信息之间相关性的问题,提出了结合社交网络图的多模态虚假信息检测模型。该模型使用预训练Transformer模型和图像描述模型分别从多角度提取各模态数据的语义,并通过融合信息传播过程中的社交网络图,在文本和图像模态中加入传播信息的特征,最后使用跨模态注意力机制分配各模态信息权重以进行虚假信息检测。在推特和微博两个真实数据集上进行对比实验,所提模型的虚假信息检测准确率稳定为约88%,高于EANN、PTCA等现有基线模型。实验结果表明所提模型能够有效融合多模态信息,从而提高虚假信息检测的准确率。     

X射线荧光光谱法测定工业硅样品中Fe的不确定度评定

分析了运用X射线荧光光谱法测定工业硅中Fe含量时,可能对分析结果产生不确定度的各种原因.依次对分析重复性、标准物质、分析曲线回归、天平称量等方面引起的不确定度分量作出了评定,最后计算了合成标准不确定度以及扩展不确定度,并给出使用该方法检测工业硅中Fe含量所得分析结果的不确定度评定报告.从评定结果得出结论,拟合分析曲线的过程所引入的不确定度对整体影响是最大的.     

铜离子印迹聚合物的制备、性能与应用研究

以Cu2＋为印迹离子,Cu2＋、AM和EGDMA的摩尔比为1：4：30,合成了一种具有高选择性和分离富集能力的金属离子印迹聚合物（ⅡP2）。其在40μg／mL的cu2＋水溶液中对Cu2＋的吸附量为12．80mg／g,印迹因子为1．94。以优化工艺下合成的印迹聚合物（ⅡP2）制备了印迹固相萃取柱,优化了固相萃取条件,并在此条件下对两个污水样品进行分析,cu2＋的萃取率分别达到93．5％和90．7％。该印迹聚合物有作为cu（Ⅱ）分离富集材料的应用前景。     

关于三系煮糖的探讨

在出产白、赤沙糖两种产品的甘蔗糖厂中,对煮糖工段应力求做到煮糖系数少,工艺流程短,产品质量高,热力消耗低,设备适应性强,操作简易而收回又高。在这方面,近年来许多糖厂坚持并发展了三系煮糖,积累了不少经验,为了进一步搞好三系煮糖,谈谈一点不成熟的看法。     

辉光放电质谱法测定高纯镍中16种痕量杂质元素

采用辉光放电质谱法(GD-MS),不用标准样品绘制校准曲线,直接测定高纯镍中硅、磷、硫、锰、铁、钴、锌、砷、镉、锑、锡、铅、铋、镁、铝和铜共16个痕量杂质元素。确定了分析高纯镍的最佳仪器参数并总结了参数的调节方法。当预溅射时间设定在20 min时,可以完全消除样品在预处理过程中引入的钠、钙和铁的污染。在中分辨率分析模式下,选择丰度最高的²⁴Mg、²⁷Al、²⁸Si、³¹P、¹¹⁴Cd、³²S、²⁰⁹Bi、⁷⁵As、⁵⁵Mn、⁵⁶Fe、⁵⁹Co、⁶³Cu、¹²¹Sb、²⁰⁸Pb作分析同位素可以减小同位素质谱峰干扰,但锌和锡例外。虽然⁶⁴Zn和¹²⁰Sn丰度最高,但其质谱峰分别与³⁶Ar¹⁴N¹⁶O和⁸²Se³⁶Ar的质谱峰重叠,因此实验选择质谱峰能分开、丰度较低的⁶⁶Zn和¹¹⁸Sn作为分析同位素。采用实验方法对3个高纯镍样品进行分析,测定值与参考值以及电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)的测定值符合性较好。其精密度随着元素含量的增大而越来越好,当元素含量在μg/g水平时,其相对标准偏差(RSD)小于10%。