校园网信息与网络安全实施方案与部署

本文针对校园网面临的安全问题,提出了包括病毒防御体系、网络信息入侵体系、内网安全管理体系、虚拟专用网在内的一套多层次的安全管理实施方案,并对方案的部署进行描述。该方案的部署能够显著提高校园网的安全水平。     

基于Pro/E直齿圆柱参数化设计与运动仿真

本文在Pro/E4.0环境下,利用直齿圆柱齿轮建立参数化模型的方法.此设计方法在进行不同齿数设计时,只需输入圆柱齿轮的已知参数,就可以迅速精确地生成所需的三维实体模型,提高了直齿圆柱齿轮的建模效率.同时在虚拟装配中定义各种约束确定了齿轮副的相对位置与啮合关系,定义齿轮机构的连接与伺服电机,实现了齿轮副的运动过程仿真.参数化建模、虚拟装配、运动仿真贯穿于整个计算机辅助设计过程.     

基于模糊自适应PID的无轴传动控制系统研究

研究模糊自适应PID控制算法对无轴传动控制系统的影响,并对控制电机转速同步精度应用不同PID算法进行比较。采用主从电机同步控制策略,并利用Matlab开发了完整的以永磁伺服电机为执行机构的仿真系统。调节控制环参数,得出控制系统的仿真曲线。通过对仿真曲线的分析,比较传统PID和模糊自适应PID算法对转速同步精度的影响,最后指出模糊自适应PID控制算法的控制效果及优越性。     

电离层相位污染和多模传播检测与识别研究

相位污染和多模传播检测与识别是抑制电离层引起天波超视距雷达杂波频谱展宽亟需解决的关键问题.文中提出了一种电离层相位污染和多模传播检测与识别算法,该算法综合应用回波信号协方差矩阵时间可逆性、回波序列Hankel矩阵特性和返回散射传播模式区智能提取方法,实现了无相位污染和多模传播(I)、仅存在相位污染(II)、仅存在多模传播(III)、相位污染和多模共存(IV)四类情形检测与识别,为后续抑制相位污染和多模传播提供依据.经仿真和试验数据验证,上述方法有效.     

自发气调包装对辣椒贮藏品质的影响

为探究不同自发气调包装对辣椒贮藏品质的影响,以\     

基于质地多面分析法评价不同处理对蓝莓鲜果模拟运输及货架品质的影响

为探究不同处理对蓝莓采后模拟运输及货架品质的影响。以\     

生长期喷施有机钙对蓝莓鲜果的保鲜作用研究

本研究通过对"园蓝"和"粉蓝"两个品种蓝莓果实在生长期喷施有机钙,从而达到提高保鲜效果。研究结果表明,生长期内喷施有机钙可有效提高蓝莓果实中钙离子含量,从而抑制了两个品种蓝莓果实呼吸强度、乙烯释放速率、丙二醛含量和可溶性果胶含量的升高,降低PPO、POD和PG酶活性,从而延缓了果实的衰老,降低果实软果率和腐烂率(80 d时,"粉蓝(喷钙)"的软果率较"粉蓝(对照)"低7.41%,腐烂率低5.62%;"园蓝(喷钙)"的软果率较"园蓝(对照)"低11.62%,腐烂率低9.57%);在果实品质方面,喷钙处理果实的可溶性固形物、总酸、总酚、花色苷含量、失重率、可溶性果胶含量的变化均在不同程度受到抑制。除此之外,喷钙处理果实表皮色泽和风味指数也较对照组有效保持。总之,生长期喷钙可有效提高"园蓝"、"粉蓝"两个品种蓝莓果实的保鲜效果。     

行波扰动对天波雷达慢速目标检测影响研究

利用电离层行波扰动(Traveling Ionospheric Disturbances,TIDs)模型,仿真分析了不同尺度TIDs引起的超视距雷达(Over the Horizon Radar,OTHR)地海杂波频谱频移、展宽以及对舰船目标检测的影响.结果表明:小尺度TIDs引起的附加多普勒频移幅度较小,但随时间变化较快,S形曲线扭曲较为严重,对OTHR影响主要表现为多普勒频移;中尺度和大尺度TIDs引起的附加多普勒频移相对于小尺度TIDs的有所增加,但随时间变化减缓,S形曲线扭曲程度减小,除引起地海杂波多普勒频移外,同时引起杂波频谱展宽,影响舰船目标检测.同时,还给出了不同尺度TIDs引起的海杂波频移、展宽抑制方法,经仿真验证,上述算法有效.     

基于全国20个省份浅析食品安全地方标准管理制度

目的 梳理全国现行的食品安全地方标准管理制度文件,分析并提出建议。方法 基于全国20个省、市、自治区食品安全地方标准管理制度文件,重点分析审评委员会、食品地方标准制定范围、公开征求意见时限、审查程序、复审等方面的要求。结果 18个省份设立审评委员会,不同程度的明确了食品地方标准制定范围;15个省份要求征求意见时限为1个月或2个月;20个省份的审查程序要求审查次数1～4次不等;18个省份规定了复审要求。结论 建议在食品安全地方标准的管理制度中设立审评委员会及秘书处;明确制定范围;公开征集意见时限不少于1个月;标准审查程序不少于3次;去掉标准复审。其他相关要求根据相关法律法规要求和地域特色设置,保障食品安全地方标准管理工作有效进行。     

基于THz-TDR的芯片金属微带线缺陷检测

针对体积小、走线密集、集成度高的封装芯片缺陷检测,目前的主要检测手段存在精度低、周期长等缺点。为弥补传统检测方法的不足,作者结合太赫兹技术与时域反射技术,探究对芯片上金属导线缺陷检测的可行性。首先在不同宽度的金属微带线上加工了不同比例的凸起、凹槽缺陷,模拟集成芯片中金属导线的不完全开/短路等阻抗不匹配情况,利用太赫兹时域反射计采集其时域反射信号。然后根据时域反射脉冲对应的时间分别对不同缺陷程度、不同缺陷类型进行定性分析,并精确计算出了芯片上金属微带线的缺陷位置。最后利用有限元分析法对硅基底上存在缺陷的金属微带线进行仿真分析,与实验结果具有良好的一致性。该研究表明,太赫兹技术与时域反射技术结合能够实现对芯片上金属导线缺陷的诊断检测,为集成芯片的缺陷检测提供了经验参考。