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综述氧化锌点缺陷发光机理的研究进展。由于纯氧化锌发光归因于本征点缺陷,理论计算方法可以得到几种本征点缺陷对应的缺陷能级,通过掺杂不同元素和改变氧分压、溅射功率、衬底温度和退火温度等制备条件,观察氧化锌薄膜光致发光的变化,进而推测氧化锌薄膜发光机理,得到了不同的机理解释。 相似文献
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"你们把人民群众的生命安危放在了第一位,你们的抢修速度很快,很及时,体现了供电人能吃苦,在关键时刻靠得住的风范。"在南宁市宾阳县黎塘铁路隧道施工坍塌现场,得知供电部门在30分钟之内排除电力故障恢复送电后,组织救援工作的广西自治区副主席林念修这样说道。 相似文献
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水热法制备ZnO∶Sb粉体结构及光学性质 总被引:1,自引:0,他引:1
采用水热法在石英衬底上以ZnCl2和SbCl3水溶液为源溶液,在较低温度下制备了Sb掺杂的ZnO粉体。采用X射线衍射(XRD)和EDS能谱仪对所生长ZnO粉体的晶体结构和元素成分进行了表征,考察了Sb掺杂对ZnO微观结构和发光性能的影响。结果表明:Sb掺杂的ZnO粉体呈六方纤锌矿结构。室温光致发光(PL)谱检测显示,Sb掺杂ZnO粉体具有很强的近带边紫外发光峰,而与深能级相关的缺陷发光峰则很弱。 相似文献
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3月23日,广西宾阳供电公副支部联建点北街村北街完小300多名小朋友们特别高兴,他们除了获得该公司捐赠的一批体育用品外,还拿到了一本由该公司发放的崭新的少年安全用电宣传小手册和学习笔记本,学到了许多丰富的安全用电知识。据统计,此次宣传活动向当地的小学生共发放了各类安全用电宣传资料800多份。 相似文献
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缺陷检测是基于金属膜层激发表面等离子体进行超衍射加工前的重要工艺流程,但目前先进空白晶圆缺陷检测设备光源多位于深紫外波段,恰好在KrF等深紫外光刻胶的感光范围内,检测带有该光刻胶的晶圆表面时易导致光刻胶感光而改性失效。针对此问题,笔者提出并设计了一种基于可见光波段的激光偏振暗场检测装置。该装置利用晶圆表面顶层银膜的偏振转换特性,通过调控入射光的偏振态与入射角,使微粗糙银膜表面的弱散射光偏振态与膜层表面颗粒的散射光偏振态产生差异,然后利用偏振器件对来自银膜表面的散射光进行部分滤除,有效提高了颗粒信号的信噪比。实验结果表明:所设计的装置在不影响光刻胶的同时还可以减少金属膜层表面散射所带来的缺陷误检。在对百纳米级颗粒进行检测时,由于使用了激光照明及高灵敏度的sCMOS作为探测器件,本装置单次曝光时间仅为150μs,是奥林巴斯公司基于白光的DSX1000暗场显微镜的4‰左右。通过抑制噪声,笔者采用该装置实测了均方根(RMS)粗糙度为3.4 nm的银膜表面上直径为61 nm的聚苯乙烯乳胶颗粒,结果显示,该装置在探测极限和探测效率上较DSX1000均有较大提升。 相似文献
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