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为了解决光通信领域中光纤产品在研发-生产阶段存在试验周期长、研发成本高和产品品质不稳定等问题,基于六西格玛质量管理方法,建立发明问题解决理论(TRIZ)-实验设计(DOE)-过程能力Cpk模型应用于抗弯曲光纤G.657.B3的研制,通过这一模型有利于开展高效的试验设计与试验成本控制,确定了G.657.B3光纤折射率剖面参数的最佳组合,并应用于批量化生产。实验结果表明:在1550 nm、1625 nm波长处,弯曲半径为5 mm且绕1圈时,光纤的宏弯典型损耗均值分别是0.063 dB、0.165 dB,光纤的宏弯性能优良。 相似文献
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直接数字频率合成(DDS)技术由于输出杂散信号多且难预测,限制了其发展和应用。依据DDS基本原理,利用傅立叶变换法分析了理想DDS输出频谱特征,推导了相位截断引入杂散信号的频谱分布特点。采用相位随机抖动注入技术,对DDS杂散信号抑制进行了系统建模和仿真,结果证明该技术对DDS杂散抑制效果显著,从而达到了改善DDS相位截断杂散的目的。 相似文献
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