X型分子筛膜的制备及渗透性能的改善

采用多孔载体上预投分子筛晶种，再用水热晶化的二次生长的成膜方法合成X型分子筛膜。通过三次晶化操作，SEM显示多孔载体上负载生长的分子筛膜厚约15μm，分子筛膜的He和N2的渗透率下降为载体渗率的1％以下，纯三丁胺与全氟三丁胺的渗透率之比为21（350℃），但表征结果显示，膜层内存在缺陷。本研究采用了化学沉积与积炭处理相结合的二步修饰法来消除缺陷，结果表明，经二步修饰后，X型分子筛膜用三丁胺和全氟三丁胺的蒸气测试其渗透率，发现渗透侧全氟三丁胺几乎收集不到，比未修饰的膜的渗透率有很大提高，说明修饰对X型分子筛膜的非沸石孔道的消除很明显。     

热效应对气体在沸石中扩散的影响

本文提出一种同时测量沸石吸入气体的速率曲线和沸石温度变化曲线的新方法.用简单的数学模型分析了沸石吸入气体的温度瞬变过程.数学分析和实验结果表明,只要实验条件选择得当,气体在沸石晶体中的扩散接近等温过程,热效应对扩散系数测定的影响可以忽略.