直列式安全起爆系统电磁环境试验研究与分析

本文介绍了直列式安全起爆系统依据国军标、美军标所进行的电磁环境性能试验的试验方案和试验结果的研究与分析，证明了该系统在电磁环境中具有较高的安全可靠性。     

半导体桥(SCB)冲击片起爆技术研究

优化设计了硅半导体芯片及桥区参数,并对SCB冲击片起爆HNS-Ⅳ炸药及影响发火能量的因素进行了试验研究。结果表明,致密性好的SCB多晶硅,厚度为4μm时,50%发火能量低,起爆重现性好。