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1.
丁继善 《半导体技术》1997,(1):15-18,37
阐述了半导体分立器件质量保证7个阶段中的质量评定系统。着重讨论了半导体分立器件批量试制阶段与市场阶段的质量评定内容,方法与一些统计结果,指出获得这些质量评定数据及注意评定后的质量跟踪对本单位产品质量的提高和向使用方提供质量保证都有十分重要的作用。  相似文献   
2.
回顾了80年代以来国内外器件厂广泛应用的在高可靠器件发展过程中发已发挥重要作用的可靠性筛选技术。  相似文献   
3.
4.
应用EDRIC可靠性模型对彩电配套用塑封整流二极管进行了增长分析,讨论了该器件的失效模式、失效机理及增长对策,使该器件的可靠性得到了较大的增长。  相似文献   
5.
丁继善 《电子质量》2002,(3):116-117,119
主要叙述电子产品设计方案阶段质量保证活动的内容及其实施方法。  相似文献   
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