X射线能谱仪Si（Li）探测器的清污处理

本文报道了X射线能谱仪的清除Si(Li)探测器污染的方法     

直接无标样x光能谱定量分析

本文将文献〔1〕的二元化合物成分的x光能谱无标样定量分析推广,使之应用于含有少于9个元素(原子序数11-83)的样品的无标样定量分析。并用BASIC语言编成EDAX9100谱仪能使用的分析程序。与EDAX9100上的Russ间接无标样分析程序比较,分析精度有所改善。     

薄膜断面微观结构的扫描电镜观察

本文对薄膜微观结构的扫描电镜观察的实验技术进行了探讨,提供了具体的实验观察方法,并给出一组薄膜微观结构的扫描电镜照片。     

混合氟化钡(BaF_2)膜的微观结构

扫描电镜对氟化钡膜的微观结构进行观察,其结果同所有的光学膜一样是柱状结构,这种结构对光学薄膜的性质有决定性的影响。我们在氟化钡中掺入少量其它氟化物制备了混合膜,用扫描电镜进行观察,发现混合氟化钡膜柱状结构明显消失,膜的结构变得很紧密,趋近于玻璃态。从而提高了薄膜的抗潮性和抗激光能力。     

用X射线能谱仪测定衬底材料上的薄膜厚度

本文利用薄膜对入射电子束流的衰减作用和薄膜对衬底的x射线的吸收,提出了一种直接利用衬底的x射线的强度比来测量薄膜厚度的方法。并在各种实验条件下,对Cu薄膜的厚度进行了测量,得到了较为满意的结果。     

X射线能谱Si（Li）探测器污染问题的研讨

通常X射线能谱Si(Li)探测器经使用后,不可避免地会受到污染,污染可分为两类:探测器外部——Be窗口污染;探测器内部——Si(Li)晶体和场效应管的污染。前者主要是探测器在有油真空中使用,探测器的低温使油蒸气不断凝结在Be窗口上,形成一层油膜,形成探测器外部的污染。后者主要是探测器真空容器密封不完善,大气总会不断渗漏进去,探测器是处于液氮温度,渗漏进去的空气中的氧,二氧化碳和水蒸气等由于其凝结温度高于液氮温度,它们将凝结在杜瓦瓶内表面,Si(Li)晶体和场效应管的表面,渗漏进去的氮气为探测器内的分子筛所吸附,探测器仍能维持高真空状态。渗漏和凝结在十分缓慢但从不间断地进行着,随着时间增加凝     

Na_5YSi_4O_(12)超离子导体的制备及其特性

Na_5YSi_4O_(12)多晶陶瓷是用5Na_2CO_3:Y_2O_3:8SiO_2 原料经混料、煅烧、压型、素烧后于1075℃在空气中烧结3h制备而成。经测其密度为理论值的92％,平均晶粒小于3μm,熔点1210℃。在88kHz频率下,测量了25～280℃温度范围样品的电导率(σ)与绝对温度(T)的关系。得出温度高于150℃,ln(σT)与1/T 成线性关系。在150～280℃温度范围内,钠离子激活性能为0.302eV,280℃时钠离子电导率为0.074Ω~(-1)cm~(-1)。     

XASM—800型多功能表面分析系统的改进与修复

对ＸＡＳＭ－８００型多功能表面分析系统扩散泵冷却进行了改进，克服了使用中突然停电引起仪器系统的污染，并介绍了受污染仪器的清洗和离子枪枪心的改进与修复等。     

非稀土Tl-Ba-Ca-Cu氧化物超导陶瓷的研究

一、引言 以YBa_2Cu_3O_(7-δ)为代表的液氮温区高温氧化物超导体问世以后,掀起了氧化物超导研究的新高潮,各种含稀土元素的高温氧化物超导体相继研制出来。由于稀土元素价格较昂贵,人们开始寻求新的不含稀土元素的高温氧化物超导体。Michel和Maeda等人首先制备出不含稀土的Bi-Sr-Ca-Cu-O系统的超导体,其零电阻温度在液氮温度之下。中科院物理所陈立泉等人改进了制备工艺,使这种Bi-Sr-Ca-Cu-O系统超导体的零电